本发明属于技术领域,具体涉及了一种用f-p标准具测量二维微位移的装置与方法。 背景技术: 目前测量微位移的方法有多种。电容测微仪法的电容c反比于微位移x,即c∝1/x,电容测量标准差sc一定时微位移标准差sx近似为sx∝x2sc,使电容测微仪的测量范围小。电感测微仪的位移有效分辨率一般比电容测微仪要大一个数量...
本发明属于光学领域,本发明公开了一种F‑P标准具平行度检测校准方法,具体是采用带有子孔径的掩膜对法珀标准具的通光孔径进行分割,通过光谱仪同时获取法珀标准具不同区域的光谱曲线,通过比对标准具局部区域光谱曲线的相对偏移,精确测量各局部区域平板间距的差异,实现法珀标准具平行度的检测和实时校准,不需要精密的移动机构、...
然后具体阐述了平行平板的多光束干涉。第三部分是F—P标准具的分类及技术指标部分, 详细阐述了F-P标准具的几大分类及自由光谱范围FSR,半宽度FWHM,精细度Fineese, 对比度Contraratio,波长漂移WavelengthShift,ITU波长偏离ITUWavelength Shift, 插损InsertionLoss等主要技术指标。第四部分是全文的重点,针对F-P标准具的设 ...
System)的发展,由于F—P标准具具有等间隔多透 射峰的特点使得它成为光源的相对稳频标准l-2一,从 而实现对多路信号光源频率的精确锁定,以避免不 同信道之间的相互串扰。然而,在F-P标准具的各 种应用中都要求能够对F-P标准具的间距进行高 精度测量,以确定设计的F—P标准具是否能够满足 ...
F-P 标准具 干涉法是目前实现高精度测量微小角度的技术手段之一,它利用 F-P 标准具的干涉 成像原理,使用物镜将入射光的偏转角度投射到像平面上,由面阵器件接收同心干涉 圆环的圆心位移实现对偏转角的测量。 对于F-P 标准具干涉法测量微小角度,以往的测量研究多集中于其测量原理的改进、 干涉图像的处理算法改进等,...
1、为解决上述技术问题,本发明提出了一种基于菲涅尔菱形棱镜的f-p标准具及设计方法,利用菲涅尔反射特性,通过控制光线的入射角度固定p光和s光的相位延迟,实现了宽波长范围、高稳定性波长锁定功能,能够用于替代双f-p标准具进行测试,且具有体积小、结构稳定的特点,大幅度增加了测试过程中f-p标准具的鲁棒性,有效降低了f...
基于内置电光晶体F-P标准具的扫描滤波方法。
本发明利用菲涅尔菱形棱镜的端面所围成的F‑P腔作为F‑P标准具进行波长锁定,配套提供了F‑P标准具的设计方法,通过获取菲涅尔菱形棱镜中P光和S光全内反射的相位延迟,确定F‑P标准具所透过光线中P光和S光的相位差周期,结合菲涅尔菱形棱镜入射端面、出射端面的反射率以及材料吸收损耗,计算F‑P标准具的镀膜反射...
本发明公开了一种基于F‑P标准具的微小伸长量的测量方法,其特征是包括以下步骤:在测量金属棒的线膨胀系数中,被测金属棒一端固定,另一端与所述工作台的升降台连接,在加热过程中随着金属棒长度发生微小的伸长会带动所述升降台同步上升,在拉伸法测金属丝的杨氏模量中,被测金属丝一端固定,另一端与所述升降台连接...
1.一种通过内置电光晶体的F-P标准具来提升飞秒激光信噪比的方法,其特征在于该方法包括以下步骤: (i)将待提升信噪比的飞秒激光采用光脉冲展宽器进行展宽,使之形成含有啁啾信号脉冲(1)和噪声(2)的啁啾信号光; (ii)通过在不同时刻于电光晶体(8)两端施加不同电压,即按公式 电压控制函数,使F-P标准具具有不同的瞬时...