b)对应的测试探头或者衰减器和测试线缆等(以上设备用于测试DUT上加载的脉冲信号的电压电流,对应的带宽采样率需求根据TLP测试加载的脉冲信号选择,>1GHz带宽,3GS/s以上的采样率,测试绘制对应的IV曲线) c)Keithley的仪器,SMU和6485测试设备SMU为测试提供偏置电压,加载电流漏流测试根据信号大小,推荐选择2450或者6485等测试设...
此阶段的测试广泛采用传输线脉冲技术（TLP）。通过TLP测试，可以获得防护器件的关键性能参数，便于在生产制造过程中调整相关的设计，从根本上提高产品的ESD防护能力，保证良率。（2）在产品通过型测试中，为了更好地量化不同情形下的ESD冲击，一般分为五种不同的模型。包括工业界作为产品片上ESD等级衡量标准的：HBM、...
完全采信TLP结果,可能会导致考核值与其它厂家的设备有一定的差异,更有甚者,由于芯片的电荷存储效应,不同厂家的ESD测试设备之间测试结果也有一定的差异;此外,TLP系统是超快脉冲,轻微的寄生即可导致波形畸变,多通道的TLP系统在实现上难度较大,因此,替换常规ESD测试设备的可行性较弱。
b)对应的测试探头或者衰减器和测试线缆等(以上设备用于测试DUT上加载的脉冲信号的电压电流,对应的带宽采样率需求根据TLP测试加载的脉冲信号选择,>1GHz带宽,3GS/s以上的采样率,测试绘制对应的IV曲线) c)Keithley的仪器,SMU和6485测试设备SMU为测试提供偏置电压,加载电流漏流测试根据信号大小,推荐选择2450或者6485等测试设...
TLP测试 TLP(Transmission Line Pulse)测试又称为传输线脉冲测试,是对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法,与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生器发出的是静电模拟方波,而传统模式发出的则是RC-LC模式的脉冲波形。 对于其他(CDM、HBM、MM等)的静电模型...
其中在很多器件的ESD性能,都会使用TLP 测试,除了使用标准的TLP脉冲发生器之外,还需要使用示波器对其脉冲进行测量。 TLP(Transmission Line Pulse)测试 又称为传输线脉冲测试,是于对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法,与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生...
TLP,Transmission Line Plus,其实就是测试芯片引脚的IV特性,不过不是测试引脚DC电压下的电流,而是给芯片引脚一个脉冲,脉宽约为100ns,上升时间约为10ns(与HBM能量一致,之后TLP又有了5ns脉宽的规格,用来模拟CDM的工作特性)。用下面一张图就可以很好地理解TLP的原理,左边波形就是测量普通的IV曲线的图,右边的波形图是...
其中在很多器件的ESD性能,都会使用TLP 测试,除了使用标准的TLP脉冲发生器之外,还需要使用示波器对其脉冲进行测量。 TLP(Transmission Line Pulse)测试 又称为传输线脉冲测试,是于对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法,与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生...
其中在很多器件的ESD性能,都会使用TLP 测试,除了使用标准的TLP脉冲发生器之外,还需要使用示波器对其脉冲进行测量。 TLP测试 TLP(Transmission Line Pulse)测试又称为传输线脉冲测试,是对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法,与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲...
其中在很多器件的ESD性能,都会使用TLP 测试,除了使用标准的TLP脉冲发生器之外,还需要使用示波器对其脉冲进行测量。 TLP(Transmission Line Pulse)测试 又称为传输线脉冲测试,是于对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法,与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生...