静电放电/过度电性应力/闩锁试验 (ESD/EOS/Latch-up) EOS/ESD造成的客退情形不曾间断,IC过电压承受能力较低,产品就有损坏风险。 对成品厂商而言,除了要求IC供货商测试到所要求的ESD防护等级,对于所选用的IC,其承受EOS的能力也更加关注。 CHINAiSTI 苏试宜特能为您做什么? 苏试宜特能协助您进行测试 ,提供...
ESD,Latch-up测试 介绍
ESD,Latch-up测试 介绍
LU Latch-Up Option (JEDEC JESD78F.01) ParametersES660-P1-LUComments Preconditioning Vectors≥ 20 MHz, 256K DepthExternal Setup V/I 4-wire Kelvin MeasurementsY DUT V/I Bus Supplies3+1, 5+1, 7+1 LU Waveform CaptureY TLU Transient Latch-Up Option ...
ESD Latch Up测试流程 1.1 ESD Latch Up测试概要 ESD Latch Up 主要用于测试芯片的ESD Latch Up的水平,需要项目SE、后端设计工程师、封装工程师、可靠性测试工程师共同参与,主要工作包括:ESD Latch Up测试方案确定、ESD Latch Up 测试流程执行、测试结果分析及出现失效后的问题定位和解决方案确定。 1.2 ESD Latch ...
ESD,Latch-up测试 介绍.pdf,ESD, Latch-up测试 讲师 :王春亮 Version1 :2007年06月06 日 大纲 1. 电子产品ESD 测试介绍 2. System ESD Test 2.1 Contact Discharge 2.2 Air Discharge 3. IC ESD Test 3.1 HBM-Human Body Model 3.2 MM-Machine Model 3.3 CDM-Charged
如没有Latch-Up失效产生,则重复第2~第3步,完成所有电源管脚的测试。 V-Test激励波形图 4.2.3 测试 类型 测试 管脚 激励极性 untested 输入 管脚状态 输出管脚 Vsupply 电源 电压5 Test管脚激励条件 失效判据 I-Test 非电源IO 正 逻辑高电平最大值 悬空 最大额定电压 Trigger:I+100mA 钳位电压:+1.5xVmax或...
Machine Mode Test; Charged Device Mode Test; Latch-up Test; Transient-Induced Latch up Test; System ESD Test–ESD Gun Test; ESD I-V Curve Measurement; Electrical Over Stress Test. Gate Voltage Scanning Curve: Voltage shift over ±30% at reference point. Images of Testing Equipment:RELATED...
.istgroup.istgroup .istgroup Version1:2007年06月06日 ESD,Latch-up测试讲师:王春亮 .istgroup.istgroup 大纲 1.电子产品ESD测试介绍 2.SystemESDTest 2.1ContactDischarge 2.2AirDischarge 3.ICESDTest 3.1HBM-HumanBodyModel 3.2MM-MachineModel 3.3CDM-ChargedDeviceModel 4.Latch-upTest 4.1StaticLUtest ...
The Thermo Scientific MK.4 ESD and Latch-Up Test System is a complete,robust and feature-filled turn-key instrumentation test package, which performs automatic and manual HBM, MM, and Latch-Up tests on devices with pin counts up to 2304. It features the highest speed of test execution, ...