ESD产生的原因较多，对于集成电路电子元件产品，常见的ESD 被分类为下列三类，分别是：人体放电模式(HBM, Human Body Model),机器放电模式(MM, Machine Model)以及元件充电模式(CDM, Charge Device Model)。人体放电模式(HBM, Human Body Model)指人体通过磨擦或其他原因积累了静电，而静电没有释放时，当人碰触...
依托季丰电子集团在国内建立的较大规模ESD检测、认证实验室,北京ESD实验室配备了MK2、Orion3等多台先进机台,可为客户提供HBM、MM 、CDM、室温Latch-up、高温Latch-up等多种ESD模式检测认证。 ESD测试模式简介: 一HBM(Human Body Mode),即人体放电模型 HBM测试模型模拟了当人体携带静电并突然放电到设备上的情景。...
CDM 模型就是基于已带电的器件通过管脚与地接触时，发生对地放电引起器件失效而建立的，器件带电模型如下：器件的 ESD 等级一般按以上三种模型测试，大部分 ESD 敏感器件手册上都有器件的 ESD数据，一般给出的是 HBM 和 MM。通过器件的 ESD 数据可以了解器件的 ESD 特性，但要注意，器件的每个管脚的 ESD 特性差...
(1)人体放电模型(Human-Body Model, HBM) (2)机器放电模型(Machine Model, MM) (3) 元件充电模型 (Charged-Device Model, CDM) (4)电场感应模型(Field-Induced Model, FIM) 下面是四类静电放电现象详加说明,并比较各类放电现象的电流大小 1、人体放电模型 (Human-Body Model, HBM) : 人体放电模型(HBM)的...
为了预测 ESD 抗扰度水平,或找到 DUT 的 ESD 敏感(薄弱)点,有多个组织制定了 ESD 相关的主要标准。他们是ESDA(静电放电协会)、AEC(汽车电子委员会)、EIA/JEDEC(电子工业联盟/联合电子设备工程委员会)和 MIL-STD(美国军用标准)。ESD 测试方法称为 HBM(人体模型)、MM(机器模型)、CDM(场感应模型)。
就是HBM是人体带静电后对产品进行静电放电,CDM是产品带静电后对外界放电。 在上一个版本的AEC Q100中,E2项还包含了机械放电测试(设备放电),但是这个版本给删除了,我觉得可能是设备防静电措施已经做的很标准化而且很靠谱了,但实际上设备静电放电和人体静电放电对产品失效影响效果是一样的,测试HBM就可以了。
目前的ESD测试标准有很多种,一般可分为芯片级和系统级,芯片级的测试包括多种静电放电模型,主要有人体模型(HBM)、机器模型(MM)、组件充电模型(CDM)等,系统级测试则包含直接放电和间接放电两种方式,以下将详细介绍各模型相应的测试标准。 一、芯片级ESD测试 ...
主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)。 有许多成熟的模型可以针对ESD事件测试半导体器件的可靠性,以确保有效性和可靠性。主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)(图1)。 图1.用于 HBM、MM 和 CDM 测试的 ESD 模型。
带电器件模型(Charged-Device Model - CDM)是第三种重要的元器件静电放电耐受阈值的测试方法。CDM 模型与之前讨论的HBM、 MM模型完全不同。HBM和MM模型是模拟人体(Human Body)或机器设备(Machine)带电后对元器件放电,而 CDM模型则是模拟元器件本身带电后对地放电。随着芯片制造、封测、装联的自动化程度提高,人体...