静电放电(ESD)能导致电子产品出现器件损坏和高频干扰两种模式的失效,但由于ESD波形和传输路径无法观测而缺乏有效的ESD问题解决方案。利用波形发生器定性地模拟静电放电频谱,使用频谱仪测量内部电路耦合到的频谱,能够在不损坏器件的情况下定量评估ESD对内部电路的注入能力从而分析出ESD传输路径,是一种可以用于器件损坏ESD问题分析的
晶圆ESD测试仪是为晶圆和器件接地静电测试设计的ESD分析测量仪器,可用于人体模型(HBM)、机器模型(MM)、传输线脉冲(TLP)、极快传输线脉冲(VF-TLP)和人体金属模型(HMM)。 晶圆ESD测试仪2针式设置减少了测试仪的寄生性,它可以捕获波形数据,并且可以自动测试数千针。 晶圆ESD测试仪“全波形”ESD测试仪一个系统提供所...