EOS失效: 定义:指由于电流或电压超过规定的范围对器件进行的损伤,通常是由长时间的过压或大电流造成的局部过热导致的失效。 特点:相对于ESD,EOS的电压和电流较低,但持续时间长(几微秒到几秒),因此能量更高。它经常导致同一功能区块多处大面积的burnout现象。 二、失效表现 ESD失效: 通常表现为晶体管级别的损坏,如...
一般来说，EOS 描述的是 ESD 以外的极端信号。下表列出了主要区别：电气过应力 (EOS) 的重要性 电子行业的许多不良措施都可能导致EOS。在过去几年中ESD（静电）受到了更多的关注。然而，ESD 仅占 EOS 总损害的一小部分。设备故障的典型原因 如上所述，EOS 和 ESD 不是一回事。这点非常重要，因为：l与 ESD ...
EOS通常产生于：电源(AC/DC) 干扰、过电压。由于测试程序切换（热切换）导致的瞬变电流/峰值/低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒（也可能是几纳秒），很短的EOS 脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。闪电。测试程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作...
EOS:持续时间与原始信号一样长,没有固定的限制; ESD:一旦消耗了累积的电荷,ESD事件就不会再出现; 3)特征: EOS:可以有任何物理上可能的波形,因为EOS的来源通常是不可预测的; ESD:具有特定的波形; 4)发生: EOS:大多数是(但不总是)周期性和可重复的; ESD:非周期性和不可重复(不能保证累积静电);...
EOS 是指某些设备在启动、常运转以及停止的时候,常常有冲击载荷 (过电流,或过电压)对其产生破坏(2)ESD和EOS 的预防为了预防 ESD及 ESO 对产品产生的危害,常采取以下一些措施: 1. 产品采用防静电包装,如:用 PE 袋包装网卡 2. 生产设备接地(ground)。 3. 使用稳压电源供电。 4. 使用防静电用品。 常用防...
EOS:通常是由电源波动、信号异常、电磁干扰等因素引起的。例如,电源的突然开启或关闭、雷击产生的电磁脉冲等都可能导致 EOS。 波形特征不同 ESD:静电放电产生的波形通常是非常短暂的脉冲,持续时间在纳秒到微秒级别,电压峰值可能非常高,可达数千伏甚至更高。
EOS通常产生于: 1.电源(AC/DC)干扰、电源杂讯和过电压 2.由于测试程式切换(热切换)导致的瞬变电流、峰值、低频干扰。其过程持续时间可能是几微妙到几秒,很短的EOS脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。 3.闪电 4.测试程式开关引起的瞬态、毛刺、短时脉冲波形干扰 5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上...
现行ESD防护方案大都存在问题,表现在电气应力(Electrical Overstress-EOS)与ESD的区分和系统类型的识别两个方面。 2.1 EOS和ESD的区分 实际上,ESD是EOS的一种特殊情况。但在确定ESD防护方案时,却常常将ESD与EOS相混淆,把EOS的防护指标当作ESD的防护指标来对装置加以要求。这样,对装置的ESD防护就可能失败,从而影响整个...
EOS与ESD是两类并不少见的电气故障类型,且随着芯片用量的日益增长,出现频次也越来越多。这两类故障都因“电”而起,有一定共同点,因而比较容易混淆。今天创芯检测就带大家来具体认识这两种故障类型,并结合案例,总结出防范的办法。
另一种情况是IC先经过了ESD损伤，在后续功能验证时大漏电流诱发了burnout现象，使得IC表面同时存在EOS和...