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为EPMA (Electron Probe X-ray Micro-Analyser),它用一束聚焦得很细(50nm～ 1μm)的加速到5kV-30kV的电子束,轰击用光学显微镜选定的待分 析试样上某个"点"(一般直径为1-50um),利用试样受到轰击时发射 的X射线的波长及强度,来确定分析区域中的化学组成.随着电子光 学技术和计算机技术的发展,现在的EPMA同时...
RE-Ni-W-P-SiC-MoS和RE-Ni-W-P-PTFE等一系列的新型复合镀层、采用日本岛津EPMA-1600型电子探针、日本理学3015型X-射线衍射仪.光学显微镜、HX-1型显微硬度计... 张欢 - 昆明理工大学 被引量: 8发表: 2003年 电子探针分析(EPMA)在矿物学研究中的应用 摘要: 毛水和 - 《地质实验室》 被引量: 6发表:...
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