EMPA在以上领域中的作用都离不开定量分析方法,EPMA定量方法的重要性在于其精确、全面、高空间分辨率的特点,为地质学和材料科学领域的研究提供了有效的工具和技术支持,推动着相关领域的发展和进步。 1 定量分析的起点 Castaing率先开发了电子探针显微分析仪,并在两方面为定量分析奠定了基础。首先,他认识到使用这种技术,...
一般形貌观察时，蒸镀金导电膜，金导电膜导电性好，二次电子发射率高，可以拍摄出质量好的图象。如果成分定性、定量分析，必须蒸镀碳导电膜。碳为超轻元素，对所分析元素的X射线吸收小，对定量分析结果影响小。所以一般定量选择镀碳会好些。镀膜要均匀，厚度控制在15-20nm左右。真空镀膜仪在蒸镀过程中会产生高温，...
EPMA 定量分析原理样品中A元素的相对含量CA与该元素产生的特征X射线的强度IA(X射线计数)成正比:CA ∝IA, 如果在相同的电子探针分析条件下, 同时测量样品和已知成份的标样中 A 元素的同名 X射线(如 Kα线)强度, 经过修正计算, 就可以得出样品中 A元素的相对百分含量CA: CA = KIA \I(A) 式中CA 为某 A...
元素含量：EPMA技术可以定量测量固体材料中微量元素的含量，通常可以达到ppm级别（百万分之一）。它可以测量固体材料中所有元素的含量，包括金属元素、非金属元素、稀土元素等。由于不同元素的电子结构不同，因此不同元素的激发能也不同，EPMA技术可以利用不同元素的激发能差异来进行元素定量分析。元素分布：EPMA技术可以...
电子探针微区分析(Electron Probe Micro-Analysis,简称EPMA)是一种高精度、高分辨率的微区分析技术,它能够定量地分析固体材料中的微量元素和化学计量比,同时还可以测量样品中的晶体结构、晶体缺陷、表面形貌等多个物理性质。 仪器原理 EPMA技术基于电子束与物质的相互作用,利用电子束击打材料表面,使样品表面发射出X射线...
1、定性分析的基本原理 电子探针除了用电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子进行形貌观察外,主要是利用波谱或能谱,测量入射电子与样品相互作用产生的特征X 射线波长与强度,从而对样品中元素进行定性、定量分析。 定性分析的基础是莫塞莱(Moseley)定律: ...
电子探针EPMA测试在电池材料元素掺杂分析应用 电子探针显微分析仪(EPMA)可对固体样品进行微观形貌观察和化学组成的定性、定量分析,由于其能量分辨率、灵敏度远高于能谱,所以它在高精度定量分析,轻元素、痕量元素分析等方面具有显著的优势。 场发射电子探针显微分析仪【博仕检测】...
ZAF 定量修正方法是最常用的一种理论修正法,一般电子探针或能谱都有 ZAF 定量分析程序。 试样中A元素特征X 射线的强度Iunk与试样中单位体积内的此元素的原子数,即和其含量成比例,所以只要在相同条件下(如加速电压、探针电流等相同),测出试样中此元素的X线强度Iunk与纯物质(标样)的X 射线强度Istd之比:KA=Iunk...
• 1951年 6 月, Castaing 在其博士论文中, 提出了EPMA定量分析的基本原理。 • 1956 年由法国 CAMECA公司制成商品EPMA。 • 1960 年扫描型电子探针商品问世。且改善分光晶体, 使元素探测范围由 Mg12扩展至Be4 。 • 二十世纪70 年代开始, 电子探针和扫描电镜的功能组合为一体, 同时应用 ...