TET东京电子株式会社ESD微型器件兼容性测试机台EMD-625E: 本产品对于目视困难的微细间距DUT和微小尺寸DUT等半导体器件可进行准确的探测。 另外,可不用探针进行晶圆等级的ESD试验: 1.适合各种形状的样品。 2.理想的微型器件ESD测试。 3.可通过选件实现HBM,MM测试。
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