Untersuchung der Elektronenempfindlichkeit von Si-oberflchensperrschichtzhlern mit Hilfe eines magnetischen Sektorfeldspektrometers: 1. Das SektorfeldspektrometerThis first part of the paper describes the calculation and design of a symmetric, double focusing 75° sector field spectrometer which is ...
Diese Bande entspricht [8] den Über- gängen vom Grundzustand 2BXg in die angeregten 2Aig-, 2B2g- und 2Eg-Zustände des Cu(II)-Atoms im Ligandenfeld der Symmetrie D411 (mit kleiner ortho- rhombischen Komponente). Die magnetische Suszeptibilität von Cu(NCO)2(py)2 be...
Die „Bildumkehr“ ist sowohl im elektrischen als auch im magnetischen Elektronenmikroskop nachweisbar. 2. Die „Bildumkehr“ wird nicht durch Verzerrungen des elektrischen Feldes an der Oberfläche einer unebenen Kathode bedingt, sondern ist, wie an einer ebenen Kathode gezeigt werden kan...
Das Rasterelektronenmikroskop weist des weiteren eine magnetische Objektivlinse (7) auf, durch die der Elektronenstrahl fokussiert wird. Innerhalb des Polschuhspaltes der Magnetlinse (7) sinddie Spulen eines magnetischen Ablenksystems (8) angeordnet, durch das der Elektronenstrahl senkrecht zur opti...
Es sind im Stand der Technik verschiedene Materialien bekannt, welche zur Bereitstellung einer Emission von Elektronen in Vakuumvorrichtungen, wie etwa Feldemissionsvorrichtungen, nützlich sind. Diese Feldemissionsmaterialien nach dem Stand der Technik umfassen Metalle, wie etwa Molybdän oder ...
um die Asymmetrie eines elektrischen Feldes zu reduzieren, die durch das erste Loch erzeugt wird; und einen Wellenleiter, der auf dem Seitenabschnitt installiert ist, um eine elektromagnetische Welle durch das erste Loch zu dem Inneren des Gehäuses zuzuführen, wobei der Elektronenstrahl durch...
5. Die Dichtematrix der Gitterelektronen im Magnetfeld Die BLOCHSche Gl. ( 2 ) für das Gitterpotential V (r) und das äußere homogene Magnetfeld H(0, dem entsprechenden Vektorpotential A{ — \ H y, \ H x, 0 ) hat das Aussehen: dtp db ~ -2hm2 - A. - r,V, r. +...
Magnetische Linse* Im homogenen longitudinalen Magnetfeld erfährt nur die quer zur Kraftlinienrichtung verlaufende Geschwindigkeitskomponente des Elek-trons eine Beeinflussung, und zwar beschreibt das Elek-tron eine Kreisbahn bzw., wenn auch eine Geschwindig-keitskomponente in Längsrichtung...
01/13/1967 Export Citation: Click for automatic bibliography generation Assignee: SIEMENS AG International Classes: H01J37/141(IPC1-7):H01J3/20 Domestic Patent References: DE1027312BN/A1958-04-03 DE1746630UN/A1957-06-13 DE918464CN/A1954-09-27 ...
wobei zur Bestimmung der schließlich durch die Feldquellelemente bereitgestellten Quellstärken die Formel (1) abgewandelt wird durch wenigstens einen Korrekturterm, welcher für |x0– xs| < δ im wesentlichen verschwindet und dessen Größe für |x0– xs| > δ mit |x0– xs...