EIA-364-26B中文版 EIA STANDARD EIA-364-26B 第1 页共5 页电子工业协会标准 TP-26B 电连接器、端子及插座的盐水喷雾试验程序 EIA-364-26B （依据EIA-364-26A修订）1999年4月7日颁布 注：本标准是依据英文标准翻译而成，如对其中的条款存在疑问或异议，则以英文标准对应条款的解释为准。
EIA-364-26B 电连接器、端子及插座盐水喷雾试验标准 1999年4月7日颁布 1目的 描述一种盐水喷雾试验的标准方法,以便评估可控的盐雾气氛对电连接器及其组件的影响。本试验与海滨大气气氛之间没有内在联系,但它可用来比较不同材料及保护涂层的耐腐蚀性能。试验的失效机制可用盐水的电化学腐蚀来解释。 2试验资源 2.1...
EIA-364-26b (1999)盐雾_GAOQS 星级: 13 页 Microsoft Word - EIA-364-26B 鹽霧測試 TP-26B doc 星级: 8 页 引智月报1999.2-1999.3 星级: 1 页 ШанскийН. М., ЖуравлевА. Ф. - Этимологическийсловарьрусскогоязыка. 1999...
for Electrical Connectors, Contacts and Sockets EIA/ECA-364-26B (Revision of EIA-364-26A) APRIL 1999 ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE Electronic Components, Assemblies, Equipment & Supplies Association ANSI/EIA-364-26B-1999(R2006) Approved: April 7, 1999 Reaffirmed: August 16, 2006 EIA-364-26B ...
EIA-364-26B-1999 发布历史EIA-364-26B-1999标准号 EIA-364-26B-1999 发布 1999年发布单位 ECIA - Electronic Components Industry Association适用范围 该标准建立了一种测试方法,用于评估受控含盐气氛对电气连接器组件@饰面@和机制的影响,并允许在指定时在暴露后获取电气读数。
EIA-364-26B中文版 EIA STANDARD EIA-364-26B 第1 页共5 页电子工业协会标准 TP-26B 电连接器、端子及插座的盐水喷雾试验程序 EIA-364-26B （依据EIA-364-26A修订）1999年4月7日颁布 注：本标准是依据英文标准翻译而成，如对其中的条款存在疑问或异议，则以英文标准对应条款的解释为准。
EIA-364-26B盐雾测试标准译文 項次 名稱 內容 1 介紹 這個標準規定了一個測試方法用於評估在可控的鹽霧的環 1.1 範圍 境中后被取出來的對電子連接器的組件、成品、機械和允 許電氣讀取的影響。鹽霧測試，就是指將試樣置於鹽水溶液所製造的細霧中，當考慮它本身的不足與限制，多少具有幾種有用的目的。如想將...
EIA-364-26B标准资料文档.pdf,ANSI/EIA-364-26B-1999(R2006) Approved: April 7, 1999 Reaffirmed: August 16, 2006 EIA STANDARD TP-26B B Salt Spray Test Procedure for 6 2- Electrical Connectors, Contacts and 4 6 Sockets 3 - A I E EIA/ECA-364-26B (Revision of E
EIA-364-26B Page 1 TEST PROCEDURE No. 26B SALT SPRAY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, CONTACTS AND SOCKETS (From EIA Standards Proposal No. 3932-A, formulated under the cognizance EIA CE-2.0 Committee on National Connector Standards, and previously published in EIA-364-26A.) 1 Introduc...
EIA-364-26B-1999 发布历史EIA-364-26B-1999标准号 EIA-364-26B-1999 发布 1999年发布单位 ECIA - Electronic Components Industry Association适用范围 该标准建立了一种测试方法,用于评估受控含盐气氛对电气连接器组件@饰面@和机制的影响,并允许在指定时在暴露后获取电气读数。