EIA JESD 51-12 + Change 1:2012
EIA JESD51-1-1995 1995年 总页数 33页 发布单位 / EIA/JEDEC标准 No. 51-1 《集成电路热测量方法 - 电气测试方法(单一半导体器件)》 适用范围: 该标准定义了一种用于确定单一集成电路设备在某种电子封装形式下的热特性标准化电气测试方法。此方法适用于比较相同电子封装中的不同设备或不同电子封装中相似的设备...
EIA JEDEC JESD51-1995 1995年 总页数 8页 发布单位 / 适用范围 本文件描述的测量方法分发在多个文档中,以便根据特定热测量需求选择适当的组合。 购买 正式版 其他标准 JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件 强制对流(流动空气)JEDEC JESD51-8-1999 集成电路热测试方法环境条件-Junction-to-BoardJEDEC...
HBM EIA / JESD22 - A114 -A 超过2000伏 MM EIA / JESD22 - A115 -A 超过200 V 平衡传输延迟 投入比接受更高的电压 V CC 对于AHC只: 与CMOS输入电平工作 对于AHCT只: 与TTL电平输入操作 从指定的 40 至+85和+125 °C. 描述 该74AHC / AHCT04是高速 硅栅CMOS器件和引脚 低功耗肖特基兼容 TTL ...
E3 (每JESD97 ) 标记: 3M标识,识别编号和三角定位 电动 额定电流: 1 A 绝缘电阻: >1 × 10 9 在500伏 耐电压: 1000年Vrms的海平面 环境的 -55C至105C + 过程评价: 最大260 ° C,单通, (每J- STD-020C标准配置文件) 湿度敏感度等级: 1 (每个J- STD- 020C ) 额定温度: UL文件号: E68080...
3.封装的热阻抗的计算按照JESD 51-7 。 推荐工作条件 民 VCC VIH VIL R1IN , R2IN TA 电源电压 高电平输入电压( T1IN , T2IN ) 低电平输入电压( T1IN , T2IN ) 接收器的输入电压 工作自由空气的温度 MAX232 MAX232I 0 40 4.5 2 0.8 ±30 70 85 喃 5 最大 5.5 单位 V V V V °C 电气特...
EIA JESD51-1-1995已经是当前最新版本。 EIA/JEDEC标准 No. 51-1 《集成电路热测量方法 - 电气测试方法(单一半导体器件)》 适用范围: 该标准定义了一种用于确定单一集成电路设备在某种电子封装形式下的热特性标准化电气测试方法。此方法适用于比较相同电子封装中的不同设备或不同电子封装中相似的设备。通过标准化...