eia/jesd22-a114 EN KR JP ES RU DE 本专题涉及eia/jesd22-a114的标准有5条。 国际标准分类中,eia/jesd22-a114涉及到。 在中国标准分类中,eia/jesd22-a114涉及到敏感元器件及传感器。 (美国)固态技术协会,隶属EIA,关于eia/jesd22-a114的标准 未注明发布机构,关于eia/jesd22-a114的标准...
eia/jedec jesd22-a113本专题涉及eia/jedec jesd22-a113的标准有2条。国际标准分类中,eia/jedec jesd22-a113涉及到。在中国标准分类中,eia/jedec jesd22-a113涉及到。未注明发布机构,关于eia/jedec jesd22-a113的标准JEDEC JESD22-A113I-2020 JEDEC JESD22-A113I-2020 JEDEC JESD22-B113B-2018 JEDEC JESD22...
JESD22-A101-B-1997 steady-state temperature humidity JESD22-A101 jesd22 JESD 22-A101 《EIAJESD22-A101-B-1997Steady-StateTemperatureHumidityBiasLifeTest.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《EIAJESD22-A101-B-1997Steady-StateTemperatureHumidityBiasLifeTest.pdf(6页珍藏版)》请在人人文库网上搜索。 JEDEC...
Test Method Al15-A (Revision of Test Method Al15) JESD22-A115-A Page 7 4 Classification procedure The devices used for classification testing must have completed all normal manufacturing operations. 4.1 Prior to ESD testing,dc parametric and functional testing at room temperature and, if applicabl...
标准号:EIA/JESD22-B116B-2017 检测标准/方法:引线键合剪切测试方法 EIA/JESD22-B116B-2017 检测对象:电子元器件 检测项目/参数:键合强度 说明(限制范围):/ 相关标准 《GB/T2423.1-2008》电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T2423.1-2008 ...
标准号:EIA/JESD22-A115C2010 检测标准/方法:静电放电试验,机器模型 检测对象:电子元器件静电放电 检测项目/参数:MM ESD 相关标准 《GB/T 6040-2019》红外光谱分析方法通则 GB/T 6040-2019 《GB/T 6040-2019》红外光谱分析方法通则 GB/T 6040-2019 ...
JEDEC STANDARD JESD22-B116A 引线键合剪切标准,包括剪切方法,失效模式和剪切力判据等等,非常实用哦 上传者:u010664249时间:2013-05-12 B116XW05 模组-LCD显示屏技术规格书.pdf LCD显示屏技术规格书,产品手册 上传者:GJZGRB时间:2022-11-21 JESD22-B117B.pdf ...
国际标准分类中,eia/jesd22-a115-2010涉及到。在中国标准分类中,eia/jesd22-a115-2010涉及到。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于eia/jesd22-a115-2010的标准JEDEC JESD22-B115A-2010 锡球拉力 JEDEC JESD22-A115B-2010 静电放电(ESD)灵敏度测试,机器模型(MM) JEDEC JESD22-A115C-2010 静电放电(ESD)灵敏度...