EBSD 系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM 、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及...
EBSD技术的原理基于电子的背散射衍射现象。当电子束在样品表面与晶体结构相互作用时,背散射电子会根据样品的晶格结构在不同的方向上发生衍射。通过检测这些衍射电子的角度和能量信息,可以得到关于晶体结构的信息。 EBSD技术通常使用电子衍射仪来收集衍射电子的信息。电子束投射到样品表面后,背散射电子被一个特定的探测器所...
作为SEM上的附加技术，EBSD结合了高分辨率的扫描电子显微镜特性，实现了亚微米级的晶体取向和结构分析，形成了显微织构这一新型科学领域。它不仅改变了传统织构分析方法，还能够进行相分析、晶界参数测定和塑性应变检测。
EBSD 系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM 、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及...
EBSD 系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM 、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及...
EBSD 系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM 、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及...
1.电子背散射衍射分析技术(EBSD/EBSP) 20 世纪90 年代以来,装配在SEM 上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns ,简称EBSP) 晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展,并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。 该技术也被称为电子背散射衍射(Electron Backscattered Diffraction ,简称EBS...
EBSD 系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM 、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及...
20 世纪90 年代以来,装配在SEM 上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns ,简称EBSP) 晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展,并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。 该技术也被称为电子背散射衍射(ElectronBackscatteredDiffraction ,简称EBSD) 或取向成像显微技术(Orientation Imaging...