Tras localizar el área de interés, examinamos la zona problemática del chip de silicio con un microscopio electrónico de barrido (SEM). El examen reveló muescas en el silicio que creaban una fisura y provocaban un cortocircuito entre las pistas de ...
Tras localizar el área de interés, examinamos la zona problemática del chip de silicio con un microscopio electrónico de barrido (SEM). El examen reveló muescas en el silicio que creaban una fisura y provocaban un cortocircuito entre las pistas de alimentación positi...