DFT设计方法综述 一、扫描设计 时序电路的直接测试往往是难以实现的,扫描设计通常能很好的解决之一问题。 扫描设计就是把难以进行测试的时序电路转化为可测试电路。即把电路中原有的一般的触发器(DFF)用可观测可控制的扫描触发器(SDFF)进行代替,然后将这些扫描触发器串接到一起形成扫描链(Scan Chain,SC),那么,在测...
如图2所示,在shift期间利用AND门(或OR门)阻止SFF的值传播到组合逻辑时发生的翻转,从而降低测试功耗。 图2 扫描跳变阻塞设计 基于DFT 的低功耗测试技术在一定程度上增加了CUT的DFT Logic开销和测试成本,可能还会延长测试时间并对CUT性能产生一定影响,但从电路层次对DFT进行低功耗设计,测试功耗优化效率非常高,实际应用...
对前端设计者来说,设计具备DFT设计的前提条件: -- 被测试逻辑的时钟信号在dft_mode下有效,频率正确; -- 与时钟信号有关的逻辑在dft_mode下能够正确工作(复位有效,旁路/选择正确等); -- SDC中对时钟源、时钟结构(即Generated Clock)描述准确无误; 前端设计在设计过程中,即需要对以上几点进行考虑和规划;设计完成...
为了降低测试成本和难度,提高芯片的质量和良品率,需要为芯片进行可测性设计(design fortest),简称DFT。 可测性设计是在芯片设计过程中保证功能的前提下,加入特殊的测试结构,芯片制造完成后进行DFT测试,如果在制造或者封装的过程中有瑕疵,芯片不能正常工作,通过DFT测试可以筛选出这种芯片。可测性设计与设计验证不同,...
1、芯片级DFT设计与集成,包括SCAN, MBIST和JTAG; 2、负责DFT测试向量的自动生成及仿真; 3、与逻辑设计工程师紧密合作,提高DFT测试覆盖率; 4、与产品工程师和测试工程师紧密合作,调试并解决在测试机上失败的DFT测试向量; 5、芯片级综合; 6、与后端工程师紧密合作,完成芯片级timing signoff; ...
在可测性设计(DFT)技术中,scan的设计是其中非常重要的的一块内容,今天就来介绍一下业界常用的三种scan cell。 一般来说,一个scan cell有两个不同的可选择的输入。第一个输入为数据输入(data input),也就是电路的组合逻辑的输入端。而第二个输入是扫描输入(scan input),由上一个scan cell的输出驱动的,从而形...
DFT设计—MBIST算法测试 当SoC上有超过80%的芯片面积被各种形式的存储器占用之时,存储器的DFT测试已经变得非常重要。 (一)存储器故障模型类型: 1.固定故障(SAF),即Stuck at Fault 存储单元stuck at 1或0。 2.转换故障(TF),即Transition fault 比如可以1->0,但是无法完成0->1的准换。
主要面向前端设计介绍DFT对RTL设计的前置需求,让前端设计者更容易写出一步到位的DFT ready的RTL代码,减少因DFT测试需求不能满足而重复迭代修改的工作量; MBIST存储器内建自测试 1. MBIST的含义与目的 MBIST是Memory Build-In-Self Test的简称,意为存储器内建自测试。“内建”的含义是指针对存储器的测试向量不是由...
Design for Testability (DFT),即“可测试性设计”,是一种在集成电路(IC)设计阶段通过引入特定测试结构和方法来提高电路在制造后测试效率和可靠性的重要技术。DFT技术随着集成电路的发展而不断演进。本文将详细探讨DFT技术的发展历史。 1. 初期阶段(20世纪60年代至70年代) ...
DFT(Design for Test)技术作为业界的标准手段,通过在芯片设计时加入测试专用电路,增加芯片的可测试性。如何降低测试成本,同时测试电路占用芯片设计上较小的面积,达到更高的故障覆盖率,已成为当前产业界的一个关键难题。 广立微与子公司亿瑞芯联合推出可测性设计自动