在此方法中,ATPG工具考量其對測試指標和功耗的影響來確定載入到功率位移控制(shift power control, SPC)鏈中的禁用值(disable value),以控制掃描鏈切換,如圖10所示。 隔離單元被運用於訊號橫跨不同功率域的設計中。如果在測試期間需要使某些功率域處於非活動狀態,隔離單元可確保活動功率域的測試訊號與邏輯能夠獨立於...
2. Shift Cycle:这主要取决于Scan Chain的长度以及低功耗设置。更长的Scan Chain或特定的低功耗设置可能会影响压缩的效率, 一般为平均链长+low power shift。(小思考?shift cycle的count能否增加EDT的随机序列的控制能力?因为随机种子默认为0,丢弃cube前面的几个shift cycle其实是可以有利于pattern产生的)。 3. Pat...
(cont) q PI1 SI q PI2 q PI3 q PI4 1 /0 0 0 1/0 q Test for a SAO fault q q q PO1 PO2 SO 0 SE Scan Shift SE CLK SI q q 0 0 0 1 SO Results From Previous Test Pattern q Scan Shift Next Test Pattern q1 qq q q q q Advantages/Disadvanges...
OCC (On-Chip Clock) 或 OPCG (On-Product Clock Gating)是为了做at-speed测试,在设计中增加的时钟控制模块。它的基本原理是在 scan shift 模式下, 选通慢速的ATE 时钟,load 或 unload 扫描链; 在 capture 模式下,对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试 MBIST R...
它的基本原理是在 scan shift 模式下, 选通慢速的ATE 时钟,load 或 unload 扫描链; 在 capture 模式下,对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试 MBIST RTL vs Gate A:很多芯片设计公司都偏爱 MBIST RTL flow, 其中很重要的一个原因,就是在设计早期,可以在 RTL ...
The sequential nature of an elastic decompressor enables the automatic test pattern generation (ATPG) algorithm to leverage multiple shift cycles to control register values in a single fault capture cycle (Figure 7). Conceptually, this is like being able to “borrow” scan bits from previous cl...
S=fftshift(S); end % Calculate outputs for EDFT iteration it used in 4 plottings. sub1=10*log10(abs(F).^2/N); sub2=20*log10(abs(S)); sub3=real(F./S/K); sub4=real(ifft(ifftshift(F))); frsig=[-fc 0 fc fc+1/4/K]; ...
Registers and sequential feedback loops are interwoven with XOR logic in the decompressor circuit. The sequential nature of this circuit enables Modus ATPG to leverage multiple shift cycles to control register values in a single fault-capture cycle. Modus ATPG can also adaptively increase the number...
由于离散非周期序列频谱是周期的,所以在计算时不必用fftshift 函数对fft计算的结果进行重新排列。 【序列频谱计算的基本方法】 连续信号,通过其抽样的离散信号,和离散信号的DFT变换存在如下关系: 通过如上关系,我们就可以通过DFT来求信号的频谱。【仿真结果】 【结果分析】 增加DFT的点数可以使频谱更容易观察,即减轻...
To initialize any flop to a value (refer the Figure 5), we simply make the SE = 1, such that SI to Q path is activated and we shift in the required values serially through a top level primary input called Scan-Input. Once the required values are loaded to the flops, we capture the...