图1:移位期间SHIFT_MODE = 1 2.2内部生成的时钟 对于所有内部生成的时钟,应提供旁路。如果需要这个时钟,比如我们需要PLL时钟进行全速测试,那么就应该在它们上面添加一个时钟控制逻辑。 图2:绕过所有内部生成的时钟 这方面的一个例子是时序生成的时钟: 这里的时钟由触发器的输出产生,因为这个生成的时钟不能由ATPG工具...
图1:移位期间SHIFT_MODE = 1 2.2内部生成的时钟 对于所有内部生成的时钟,应提供旁路。如果需要这个时钟,比如我们需要PLL时钟进行全速测试,那么就应该在它们上面添加一个时钟控制逻辑。 图2:绕过所有内部生成的时钟 这方面的一个例子是时序生成的时钟: 这里的时钟由触发器的输出产生,因为这个生成的时钟不能由ATPG工具...
1)switch到shift mode,将stimulus输入到scan cell中; 2)switch到capture mode,输入clock,capture value; 3)switch到shift mode,移出response;
目录 收起 timing exception flow mode merge flow dft和function的constraint没有很大区别,时钟跟fun可能有区别,切换可能通过端口tm译码出来,数据datapath会有些区别,但是对constraint来讲没有太多区别,在timing上,atspeed跟function的timing非常类似,slow的shift和capture属于一个较慢的时钟,不会在timing上遇到太多问...
再把Scan-En设成1,此时scan chain 工作在shift mode,此时便可以把组合逻辑的输出值shift出来,和期望值进行比较。 经过这样一个周期,图中的组合逻辑和时序逻辑便都被测试到了。 Scan作为DFT最为核心的技术,是每个DFT工程师,测试工程师,甚至是前端设计工程师都必须要理解的一个概念。
在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟脉冲。 此OCC(具有 5 位移位寄存器)在at-speed test的行为如图 2 所示...
在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟脉冲。 此OCC(具有 5 位移位寄存器)在at-speed test的行为如图 2 所示...
SCAN用于检测芯片逻辑功能是否正确。DFT设计时,先使用DesignCompiler插入ScanChain,再利用ATPG(Automatic Test Pattern Generation)自动生成SCAN测试向量。SCAN测试时,先进入Scan Shift模式,ATE将pattern加载到寄存器上,再通过Scan Capture模式,将结果捕捉。再进入下次Shift模式时,将结果输出到ATE进行比较。
两个触发器分别由ClockDR和updateDR两个时钟信号驱动,两个选择器由ShiftDR和Mode两个控制信号控制,它们相互配合能完成scan、capture、update等操作。 🔧【JTAG】 全称为Joint Test Action Group(联合测试行动小组),最初是为了解决芯片测试方法不统一的问题。JTAG组织研究出标准测试访问接口和边界扫描结构,提出PCB和IC...
单管Shift 可能看不出来,要是漏电,可以到达毫安级别还是有筛选意义的,很大异常能测得的。 我以前一直觉得,理论上只要Scan 的覆盖率趋近100%,通过做IDDQ 来查错误就是没有意义的,不过做一次IDDQ 来看看Leakage 功耗这点还是有意义。 模拟逻辑不覆盖,IDDQ 就是测数字逻辑的,类似DDR IO 也很关注IDDQ, 这些要单独...