Scan Element 除了基于扫描链的测试方法外，还存在一种基于latch的Scan元素，尽管它并非主流技术。这种Scan元素的设计和使用，在某些特定场景下，可能能够提供额外的测试灵活性和效率。然而，由于其使用范围相对较窄，因此在实际的IC设计DFT流程中，可能并不占据主导地位。Fault Model与Defect在探讨Scan元素时，我们不可...
而lockup latch的加入,实际上将timing check分成了两部分,一部分是Reg2Latch,一部分是Latch2Reg,对Reg2Latch这条Path来说,由于是同一个时钟域,hold检查在同一周期的同一时钟沿,在靠的较近的情况下几乎没有skew,hold很好满足;而对Latch2Reg这条Path
还有基于latch,但是非主流 ❞ Fault model VS. Defect Stuck-at Fault———用于低速测试 At-Speed Fault———用于在速测试 Transition Delay Fault Model Path Delay model D算法 How Scan Test works 7 ❝ 这是一个pattern ❞ Transition Launch Mode Full scan & Partial scan ATSPEED TEST & OCC Sca...
Scan element ❝ 还有基于latch,但是非主流 ❞ Fault model VS. Defect Stuck-at Fault———用于低速测试 At-Speed Fault———用于在速测试 Transition Delay Fault Model Path Delay model D算法 How Scan Test works 7 ❝ 这是一个pattern ❞ Transition Launch Mode Full scan & Partial scan ATSPEE...
所谓门控时钟,就是在芯片实际工作过程中,有些信号或者功能并不需要一直开启,那么就可以在它们不用的时候将其时钟信号关闭。这样一来信号不再翻转,从而能够有效减少动态功耗。 目前门控时钟都采用集成门控时钟单元(ICG,integrated clock gating cell),其结构如下。由一个latch和一个与门(也有的是或门)组成,可以过滤...
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还有基于latch,但是非主流 3.Fault model VS. Defect 4.Stuck-at Fault———用于低速测试 5.At-Speed Fault———用于在速测试 6.Transition Delay Fault Model 7.Path Delay model 8.D算法 9.How Scan Test works 这是一个pattern 10.Transition Launch Mode ...
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Latch的电路结构如下图: Latch电路结构 当E = 1 时,latch直传(transparent),D端信号的变化会即时反应在Q端; 当E = 0 时,latch关断(closed),Q端保持关断瞬间D端的值。 设计中使用Latch的好处是,相比寄存器的面积更小,功耗更低,可以从后级电路进行time borrowing,更容易满足setup time,然而坏处是STA分析不会...
这是一种被广泛采用的扫描测试技术,主要优点是系统时钟和数据之间不存在冒险条件,这是由严格的LSSD设计规则所保证的。它用了比单个锁存器复杂得多的移位寄存锁存器(Shift Register Latch—SRL),并需要附加多达4个的输入/输出管脚,其中两个用于测试模式的时钟,一个用于扫描数据的输入,一个用于扫描数据的输出。