或设置它们的总数。 Lab1:Configuring Scan Chain/Test Logic During this lab ,you will · Configure scan chains and insert test logic in a full scan flow · Set up scan pins · Balance scan chains with multiple domains · Stitch scan chains 在本次实验中,您将 · 配置扫描链并在全扫描流程中...
7、ATPG implementation ( with TestKompress/ TetraMAX Lab). 芯片ATPG技术实现 ATPG Flow Preview Building Design Design Rules Check Controlling ATPG Saving Pattern and Pattern Validation Lab TestKompress/TetraMAX introduce 8、Understanding MBIST 芯片MBIST技术介绍 Why Memory testing is required? Memory Fault...
Diagnosis and Yield Improvement ATPG Diagnosis Diagnosis Environment Setup Chain Diagnosis Flow Build up Layout Aware Scan Diagnosis Transition Diagnosis Cell Aware Diagnosis Yield Analysis Flow Setup MBIST Diagnosis Build Lab MBIST Diagnosis Build Mass Products MBIST Diagnosis...
移知教育历时两年,邀请两位资深DFT工程师,针对DFT工程师的需求,倾力打造《DFT全流程实现》本课程理论结合实践,介绍业界常用的两种DFT实现工具Tessent和TestMAX,理论部分以EDA工具使用手册为主要内容,讲解DFT理论知识以及实现流程,实践环节以EDA工具lab为基础,带大家学习基本flow,然后以MCU为实际项目,带大家完成实际flow。
n UNIX environment for lab work 培训师资 栗晶晶,新思科技DFT应用工程师,熟悉DFT设计流程,具有DFT设计相关工作经验。 江彬,新思科技资深解决方案工程师,具有多年DFT设计,验证等工作经验。熟悉DFT相关测试技术。 主办单位 培训信息 培训日期: 2022年3月2日—3月4日 ...
The wafer-sort, FT, SLT and lab results correlated properly. We sincerely thank Mentor for its outstanding tool quality, exceptional innovation and constant support.” Mentor’s Tessent software is a market-leading DFT solution, helping companies achieve higher test quality, lower test cost and ...
请说明 IC 前端整合(RTL To Netlist)所包含的流程,并简要说明一下 Synthesis 的主要任务,以及 Synthesis 的输入和输出。 以门级网表(Netlist)生成为分界线,之前称为前端,之后称为后端。 布局布线之前可以认为是前端,布局布线到流片是后端。 前端:逻辑设计,RTL ——》 Netlist 门级网表; ...
半导体芯片之车规芯片—— Lab Companion 半导体芯片之车规芯片 一台新能源汽车分为好几个系统,MCU隶属于车身控制及车载系统,是最重要的系统之一。 MCU芯片又分为5个等级:消费级 2024-01-11 14:30:36 EDA加速车规芯片设计 车规芯片也是一个芯片领域比较特殊的种类,尤其是它对功能安全有严格的要求。车规芯片...
本文通过仿真探索不同子载波分配方式对 PAPR 的影响,包括 IFDMA、LFDMA 和 OFDMA 的 DFT 扩频技术的 PAPR 性能。 一、DFT 扩频原理 这里直接贴上相关的原理知识: 二、MATLAB 仿真 分析IFDMA、LFDMA 和 OFDMA 的 DFT 扩频技术的 PAPR 性能 1、核心代码 ...
TetraMAX Lab). 芯片ATPG技术实现 ATPG Flow Preview Building Design Design Rules Check Controlling ATPG Saving Pattern and Pattern Validation Lab TestKompress/TetraMAX introduce 8、Understanding MBIST 芯片MBIST技术介绍 Why Memory testing is required?Memory Faults Memory Testing Techniques Memory BIST ...