DFT Compiler RTL Test DRC User Guide (DB Mode) 下载文档 收藏 打印 转格式 287阅读文档大小:410.34K34页小西西上传于2011-02-20格式:PDF GUI Guide for Encounter RTL Compiler 热度: Design Compiler User Guide 热度: DFT Compiler DFTMAX and DFTMAX Ultra User Guide version L-2016.03 ...
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等符号。 read netlist /design/*/?design??.v 创造 ATPG 模型 run build_model topmodule 读入测试协议文件 SPF_file,执行ATPG 设计规则检查 DRC run drc SPF_file 所检查的内容涉及到: 检查扫描链是否正确连接,在扫描移动过程中扫描链是否正确移动 检查时钟和异步置位、复位信号是否仅仅由芯片外部输入引脚控制...
·创建并自动执行DRC,以检查时钟门控器上的使能引脚的状态,检查存储器是处于旁路模式还是已启用,检查 ...
1、虽然教科书会介绍很多种DFT DRC但是在实际设计中95%的⼯作在修复scan_clk和scan_reset的DRC violation;2、修复clk/reset violation 的⽅法主要是⽤DC插⼊mux ,⽬的是使在scan_mode下clk和reset被芯⽚scan_clk和scan_reset pad控制。同时,scan_clk和scan_reset pad会⽤于ATE给芯⽚施加激励;...
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(STIL - Standard Test Interface Language for Digital Test Vectord, IEEEStd. 1450.0-1999) Check DRC and make any necessary corrections Prepare design for ATPG, setup fault list, analyze buses for contention and set the ATPG options Generate vectors Review the test coverage and re-run ATPG if ...
主要包括 DRC 规则检查和 覆盖率分析中的一些常用命令 1. 检查DRC: SETUP> check_design_rules #或者: SETUP> set_system_mode analysis 有error时无法跳转到analysis模式,依然维持setup模式 通过report_drc_rules来报出唯… 阅读全文 赞同 5 ...
1、虽然教科书会介绍很多种DFT DRC但是在实际设计中95%的工作在修复scan_clk和scan_reset的DRC violation; 2、修复clk/reset violation 的方法主要是用DC插入mux ,目的是使在scan_mode下clk和reset被芯片scan_clk和scan_reset pad控制。 同时,scan_clk和scan_reset pad会用于ATE给芯片施加激励; ...
;了。 以下对工具的使用原则做一些介绍: ATPG工具Insert scan: 1、虽然教科书会介绍很多种DFT DRC但是在实际设计中95%的工作在修复scan_clk和scan_reset的...向。 Atpg patterns产生和仿真: 1、所有的模拟模块,例如PLL、POR等,一般设置为black-box,无法用ATPG测试其内部; 2、芯片clk、power、reset的控制寄存器...