• 在PCB layout时,就通过过孔在背面预留有测试 点,这样可以直接点测完全信号的探测;也就是DfT(Design for Test)。 • 当使用直接探测时,可以得到很好的信号保真度。 • 但对于PCB正反面都贴有DRAM颗粒,这种方法无能为力。 DDR测试方案一:直接探测 DDR3 DIMM + TDP7700 Probe
DDR芯片老化测试与功能测试 为了确保芯片在使用过程中保持稳定性，谷易电子DDR系列芯片（内存颗粒）测试夹具/治具工程师介绍：DDR芯片需要进行老化测试和功能测试。老化测试通常用于模拟芯片在长时间使用后的状态，以检测任何可能出现的性能退化或故障。这类测试一般在高温高湿的环境下进行，以加速电子元件的老化过程，从而...
针对DDR生态链中的不同产品形态,是德科技都提供完整的解决方案,如下图,包括发射端测试、接收端测试、协议测试等等,我们在下文会分别予以介绍。 图:是德科技完整的DDR产品形态解决方案 1、DDR5发送端测试 随着信号速率的提升,SerDes技术开始在DDR5中采用,如会采用DFE均衡器改善接收误码率,另外DDR总线在发展过程中引入...
01DDR接口的基本原理 • 内核的频率:100MHz~266MHz,从SDR时代到DDR,再到最新的DDR5; • 数据速率的提升是通过I/O接口的架构设计实现的,主要有三个技术: 1) 双边沿传输数据:这是DDR名称的来源; 2)预取技术(Prefetch):2bit for DDR, 4bit for DDR2, 8bit for DDR3, 8bit for DDR4, 16bit for D...
为了保证DDR内存颗粒的质量和可靠性,需要对其进行一系列的测试。 一、外观检查 首先进行的是对DDR内存颗粒的外观进行检查。外观检查主要包括观察颗粒是否完整、无裂纹、无破损等情况。同时还要检查颗粒的焊盘是否平整、无锡等问题。外观检查可以直观地判断出颗粒是否存在明显的质量问题。 二、尺寸测量 尺寸测量是对DDR内存...
如下图所示,在tDS 测试时QPHY-DDR2自动找出了对应的67ps建立时间修正值。 力科DDR2一致性测试解决方案QPHY-DDR2 力科QPHY-DDR2测试解决方案可以对DDR2总线进行全方位的自动化测试,支持所有标准速率的DDR2内存系统(400/533/667/800/1066M)及用户自定义的其他DDR2工作速度,可对JEDEC组织及Intel规定的所有DDR2...
泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案,DDR目前正在逐渐渗透到计算机行业,通讯行业和消费电子行业的各个领域,随着DDR产品的更新换代和速度的提升,DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 如何理解DDR物理层和协议层原理,如何对DDR数据进行读写分离,
1、DDR3SDRAM信号按功能分类 2、DDR3中的几种采样关系 地址控制信号ADDR/CMD与系统时钟CK的时序关系 数据信号DQ/DM与数据选通信号DQS的时序关系 写周期 读周期 几种时序关系,后续会做详解 3、DDR时钟信号(CK、DQS)测试: 时钟信号过冲要求 写方向
Keysight DDR4参数测试参考解决方案帮助工程师根据 JEDEC 规范来验证 DDR4存储器设计的信号完整性。 索取报价 特点 软件、附件、服务 资源 特点 DDR4参数测试参考解决方案 Keysight DDR4参数测试参考解决方案帮助工程师根据 JEDEC 规范来验证 DDR4存储器设计的信号完整性。
內存测试 DDR、RAM、闪存 针对RAM、闪存或其他内存芯片的标准化和客製化测试解决方案 存储器IC是几乎所有电子设备的核心部件。存储器IC通常分为易失性和非易失性存储器，其中当电源循环中断时，易失性内存保持其存储的信息，并且易失性存储需要恒定的电源来保持其数据。大多数内存模块具有标准化格式，可以使用标准化...