现在的工业量产的高速芯片都会要求能做DC SCAN测试和AC SCAN测试,所以DFT工程师也要同时插入两种测试电路,产生两套测试patterns。 具体实现流程如下 1 读入没有插入scan的网表 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时插入mux, fix DRC 3 使用Testcompress 实现EDT压缩scan chain 4 ...
SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M ,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率是...
一、使用set_auto_disable_drc_nets命令使时钟网络免于设计规则检查 DC会自动通过插入 buffer或者 resizing单元的方式进行设计规则违例修正,不过时钟常值和scan是比较特殊的net,综合人员可以使用set_auto_disable_drc_nets命令来声明不对这些特殊nets进行设计规则违例修正。 -default为默认选项,默认情况下时钟和常值是被di...
也就是说不打散较好。 **scan扫描链 扫描链是在寄存器前加入选择器,在DFT时可能会有影响,如果想加入scan扫描链,在综合的时候必须评估扫描链寄存器的影响,即加入-scan命令。 scan寄存器只是换成mux选择器,并没有形成一个链。 在多级寄存器级联时,中间加入buffer或者反相器,只在第一级加入扫描链。 **-timing compi...
set_scan_configuration -style set_app_var compile_seqmap_identify_shift_registers false # 如果有要求保持流水线中的寄存器器输出,就要进行约束: set_dont_retime [get_cells U_Pipeline/R12_reg*] true # 如果设计中包含有纯的流水线设计,那么可以进行寄存器retiming: set_optimize_registers true -design My...
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-scan:做可测试(DFT)编辑; -no_autoungroup:关掉自动取消划分特性; -no_boundary_optimization:不作边界优化; -no_uniquify: 加速含多次例化模块的设计的运行时间 -area_high_effort_script: 面积优化 -timinq_high_effort_script: 时序优化 -retime:让工具在优化的时候自由组合移动某些逻辑以达到优化timing 的作用...
对下载到scanPath\NBCB_DC\目录的文件进行扫描,解析出结构化数据保存到回单库的表中同时将文件保存到bakPath\NBCB_DC\目录下。扫描调度结束后,可点击回单任务的【结果】查看回单的结构化数据。如下图所示: 三、常见问题 1、任务失败,异常信息提示“获取参数异常” ...
回单平台会根据报文体中的fileLength文件大小,读取返回报文后的文件字节流内容,保存在本地tempPath\SPDB_DC目录下,并修改文件名为:952A9997220008092_20461231_995209880014_36.11_1_20230712100001026263.pdf,然后将文件移动到\scanPath\SPDB_DC成功下。 文件命名规则:银行账号_交易日期_柜员流水号_交易金额_回单文件编号....
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