d-type flip-flop工作原理 D型触发器(D Flip-Flop)是一种功能非常简单但却十分实用的数字电子电路。它是由两个电子管组成的,用来存储数字数据。它的名称是由触发器的两个最基本的输入信号,即“数据(D)”和“时钟(CLK)”所组成的。 正常情况下,D型触发器的输出始终等于它的输入。只有在时钟输入信号发生变化...
存储信号的电路常用的有锁存器(Latches)和D触发器(D-type Flip-Flop),前者使用时钟电平捕获信号,后者使用时钟沿捕获信号。对于使用时钟沿捕获数据的电路结构,同步系统中用Register表示,中文译为寄存器。因此,D触发器是寄存器的一种。 在下面的例子中,用Verilog进行一个D-Latch的RTL的建模示例和一个寄存器(D flip-...
D-type flip-flops SN74AC174-Q1 Automotive hex D-type flip-flops with clear Approx. price (USD)1ku |0.177 checkmark Available form factors Our D-type flip-flop portfolio comes in a wide array of package offerings designed for any situation. ...
D-Type Flip-Flop with Common Mode Adjust Linearized Dual D-Type Flip Flop with Increased Input Signal Sensitivity and Common Mode Level Adjustment 具有提高输入信号灵敏度和共模电平调整的线性化双D型触发器 用于全速率时钟数据重定时的高速宽带2通道D型触发器 灵敏的输入数据缓冲区,CM范围增大,非常适合采样...
D-TYPE FLIP-FLOPPROBLEM TO BE SOLVED: To add functions required for forming a semiconductor integrated circuit, especially a reset function and a set function or a preferable function of coping with scan test, to the D-type flip-flop of differential-RS latch constitution.SUZUKI RYOICHI...
`define SYS_CLOCK 20 module test; reg r; reg clk; reg d; wire q; initial begin clk=0; d=0; r=1; #100 r=0; d=1; #100 r=1; #100 d=0; end always #(`SYS_CLOCK/2) clk<=~clk; D_type_flip_flop test_DFF( .d(d), .r(r), .clk(clk), .q(q) ); endmodule 图1...
5) flip flop multivibrator 双稳态多谐振荡器 例句>> 6) bistable multivibrator 双稳态多谐振荡器,触发器,双稳多谐振荡器补充资料:多谐振荡器 利用深度正反馈,通过阻容耦合使两个电子器件交替导通与截止,从而自激产生方波输出的振荡器。常用作方波发生器。 说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途...
The D-Type Flip-Flop models a generic clocked data-type Flip-Flop . The Q and QN outputs can change state only on the specified clock edge. The clock edge trigger can be set with the Trigger Condition ...
TI/德州仪器 SNJ54LS273W 触发器 Octal D-type Flip-Flop With Clear 20-CFP -55 to 125 更新时间:2024年06月04日 价格 ￥0.10 ￥0.01 起订量 100个起批 3000个起批 货源所属商家已经过真实性核验 发货地 广东省 深圳市 数量 获取底价 查看电话 商家接听极速,可点击洽谈 在线咨询 QQ联系 ...
D-type flipflop 优质文献 相似文献 参考文献 引证文献A 40-GHz D-type flip-flop using AlGaAs/GaAs HBT's of 110 GHz. To maximize the speed, the logic swing and transistor size in the IC were optimized. In the D-FF, to facilitate the high-speed testing, a selec... Y Kuriyama,T Sugiya...