高角度环形暗场扫描透射电子显微镜（HAADF-STEM）及元素映射表明C、N、Zn和Cu元素在Cu/Zn-MOF中均匀分布。X射线光电子能谱（XPS）检测到Zn和Cu的特征峰，进一步证实了Cu/Zn-MOF的成功构建。此外，氮气吸附-脱附等温线和孔径分布曲线显示Cu/Zn-MOF具有高达1753.72 m²/g的大比表面积，并且具备微孔和介孔结构...
由于吡咯N和Cu-Nx位点的XPS峰值存在很小的差异,因此吡咯N的宽峰可能包括Cu-Nx的贡献。在图2(d)所示的O 1s的XPS光谱中出现了两个较强的峰,529.8eV处的峰归属于Ti-O-Ti键,这是晶格氧(O2-)物种的主要成分;531.5eV处的峰对应于催化剂表面吸附的水分子中的羟基(·OH)。图2(e)所示为Ti 2p的高分辨率XPS...
在图2e中,FT-EXAFS谱在1.5 Å处显示优势峰,归因于Cu-N键。EXAFS定量分析(图2f)表明LaCu/CN中的Cu原子与3个N原子配位。LaCu/CN的La L3-edge XANES谱(图2g)验证了La单原子的价态与La2O3的价态接近。LaCu/CN的FT-EXAFS谱在2.0 Å附近有一个主峰(图2h),对应于La-N的散射路径。La在LaCu/CN中与4个...
同时，国立台湾大学的L.C Chen研究小组等人通过XPS分析SiCN薄膜中的Si(2p)、C(1s)、N(1s)峰时，发现与Si-N和C-N峰不同，Si-C峰未被检测到，这表明了一种特殊的趋势。尽管这种现象的明确原因尚未找到，但它是理解SiCN薄膜的键合敏感性及其机制的一个重要现象。此外，国立台湾大学的C.C. Huang研究小组等人...
XANES分析证实了铜氧化态的降低,而 XPS则进一步证实了Cu(II)的部分转化成Cu(I)。周期性DFT计算进一步表明,Cu(I)与 C2H4的相互作用比 Cu(II)更强。凭借其简便的合成方法以及通过 C2H4预处理而增强的性能,Cu@SAPO-RHO 活性沸石为工业...
XPS表征结果如图2所示,454.1和446.5 eV处有两个对称峰,对应于氧化铟的 In 3d3/2和In 3d5/2。还原后,出现了一个位于 444 eV 的新峰,表明氧化铟的部分还原导致了表面缺陷的产生。O 1s 光谱进一步证实了这一现象,还原后除了氧晶...
首先，采用 X 射线光电子能谱 (XPS；ThermoFisher Scientific，NEXSA) 分析 SiCN 的原子组成，采用表面分析模式，X 射线束斑尺寸为 400 μm。分析结果表明，我们的 SiCN 材料由 Si:C:N:O = 32.52:29.96:22.54:14.98 组成，C/N 比为 1.33。接下来，通过透射电子显微镜 (TEM; JEOL, JEM-2100F) ...
图3 CuCo@NC样品的XPS表征及CuCo@NC和Co@NC中的氮含量测试 a-c)在a中CuCo@NC中Co 2p、Cu 2p、N 1s的高分辨率XPS图像,清晰的峰显示铜元素已经成功掺杂进Co@NC中,而O 1s峰的出现可能是因为金属氧化物的产生或者样品中存在物理化学吸附的氧元素;
C2HO-和LiF2-分别是来自溶剂分子的有机组分的特征离子片段和来自阴离子的LiF。如图5a所示,在整个溅射过程中,s-Cu(100)箔上的SEI中LiF2-含量始终高于s-Cu(111)和p-Cu箔上的SEI含量。同时,s-Cu(100)箔上的SEI沿厚度方向的C2HO-含量较低,这与XPS结果一致(图5b)。
氢气还原处理(称为还原后样品)和进行过CO 2加氢反应实验后的样品(称为反应后样品)均进行XPS 测试。氢气还原处理的条件为,V (H 2)=20ml/min ,523K 还原处理2h ,然后在氢气保护下把样品送到有N 2保护的样品箱中,在N 2保护下送入能谱检测室,反应前后样品则不作任何保护,反应条件同文献[4]。2 结果与讨论...