- CPS35-D-SPS常用于逻辑芯片(如CPU、GPU)的终测环节,其高精度针尖可匹配5nm以下制程的焊盘间距。 - 国内某头部封测企业反馈,使用该探针后,测试良率提升约3%,主要得益于其稳定的接触性能。 2. **功率器件测试** - CPM30-DF-SPL因耐高温特性,被广泛用于新能源汽车IGBT模块的出厂测试,某日系车企供应链采用...