公式Cpk=(1-k)Cp很好地诠释了Cpk与Cp之间的关系,即Cpk≤Cp。因此,此公式被广泛地应用于工作当中。 而偏移系数k还有一个名字叫Ca,即”准确度“,与”精密度“Cp相对应。因此,Cpk的计算公式可转化为Cpk=(1-|Ca|)Cp。Cpk是Cp与Ca两者的中和反应,Cp反应的是散布关系(离散...
1. Cp与Cpk都被称为过程能力指数，二者的区别是什么呢？首先要介绍两个术语“无偏”和“有偏”。当数据的分布中心与公差中心重合，称为无偏。而无偏情形下的过程能力指数就是Cp，也称理论上的过程能力指数；当数据的分布中心与公差中心不重合，称为有偏。而有偏情形下的过程能力指数就是Cpk，也称实际上的过程能力...
Cp = (USL-LSL)/6σ =0.02/ (6*0.0025) =1.33 三、过程能力指数CpK的定义及计算 上面我们讨论了Cp,即过程输出的平均值与目标值重合的情形,事实上目标值与平均值重合情形较为少见;因此,引进一个偏移度K的概述,即过程平均值μ与目标值M的偏离过程...
公式Cpk=(1-k)Cp很好地诠释了Cpk与Cp之间的关系,即Cpk≤Cp。因此,此公式被广泛地应用于工作当中。 而偏移系数k还有一个名字叫Ca,即”准确度“,与”精密度“Cp相对应。因此,Cpk的计算公式可转化为Cpk=(1-|Ca|)Cp。Cpk是Cp与Ca两者的中和反应,Cp反应的是散布关系(离散趋势),Ca反应的是位置关系(集中趋势)...
一、cp指数的计算：Cp=T/（6*σ），其中T=允许最大值（Tu）-允许最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，则过程技术能力越好。Cp是指过程满足技术要求的能力，常用客户满意的偏差范围除以六倍的西格玛的结果来表示。二、cpk指数的计算：Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp...
CPK则是在考虑了过程偏移的情况下，衡量过程能力的指标。其计算公式为：CPK=(1-k)CP=[1-(2ε/T)]CP。其中k为偏移系数，ε为过程平均值与规格中心的偏离值。上述公式中涉及的“正态分布”是统计学中的一个重要概念。在正态分布图中，我们可以直观地理解T、σ、ε等参数的含义。T表示规格限，...
CPK=CP*(1-K) U:设计目标数 设计上、下限:设计上限:平均数+ 3σ设计下限:平均数- 3σ 控制上、下限:图纸的控制要求尺寸,如 100±0.25 ,则尺寸控制上限为100.25,控制下限为99.75。 X–(AVERAGF):平均数(每组数据总和的平均值) R:客户所需求的σ倍数N:数据组内的数据个数 ∑:求合数 CPK计算例题 某产...
首先是有k指数（Cpk和Ppk）和没k指数（Cp和Pp）的区别：没k指数（Cp和Pp）只显示过程的产出品的离散程度和可接受标准的关系；而有k指数（Cpk和Ppk）除了显示过程的产出品的离散程度和可接受标准的关系外，还关注过程的产出品的均值是否偏离可接受标准的中间值。其数学关系是：有k指数永远不大于没k指数，即：...
Cpk= (1-K)*Cp= (1-2|M-μ|/T)*T/6σ =T/6σ-|M-μ|/3σ 从公式可知: Cpk=Cp-|M-μ|/3σ,即Cp-Cpk=|M-μ|/3σ 尽量使Cp=Cpk,|M-μ|/3σ是我们的改善机会。 例:某车床加工轴的规格为50±0.01mm,在某段时间内测得平均值μ=49.995,σ=0.0025,求车床加工的过程能力指数。
通用公式：CPK = Min[ (USL - Mu) / 3σ, (Mu - LSL) / 3σ ] ，其中USL为规格上限，LSL为规格下限，Mu为过程均值，σ为过程统计量的总体标准差。在实际应用中，通常状况下质量特性值分布的总体标准差（σ）未知，会采用样本标准差（s）来代替。用Cp和偏移度k表示：Cpk =（1 - k）* ...