A Serial Wire JTAG Debug Port (SWJ-DP). serial wire debug(SWD)是由两根线组成的,一根数据线SWDIO和一根时钟线SWCLK。 JTAG由标准的5根线组成。 AP一般有以下种类: APB access port(APB-AP) AHB access port(AHB-AP) AXI access port(AXI-AP) JTAG access port(JTAG-AP) 3. APB和ATB接口 AMBA APB...
TRST(测试复位)可选 三、SWD串行线调试 SWD,Serial Wire Debug(串行线调试)模式是标准JTAG接口的替代方法,它仅使用两个引脚即可提供与JTAG相同的调试功能,而不会降低性能,并通过串行线查看器(SWV)引入了数据跟踪功能。 在JTAG引脚中包含SWD接口引脚,从而允许标准目标连接器中使用。引脚包含: TCLK-SWCLK(串行时钟) ...
SWD串行线调试 SWD,Serial Wire Debug(串行线调试)模式是标准JTAG接口的替代方法,它仅使用两个引脚即可提供与JTAG相同的调试功能,而不会降低性能,并通过串行线查看器(SWV)引入了数据跟踪功能。 在JTAG引脚中包含SWD接口引脚,从而允许标准目标连接器中使用。引脚包含: TCLK-SWCLK(串行时钟) TMS-SWDIO(串行数据输入/...
3 SWD串行线调试 SWD,Serial Wire Debug(串行线调试)模式是标准JTAG接口的替代方法,它仅使用两个引脚即可提供与JTAG相同的调试功能,而不会降低性能,并通过串行线查看器(SWV)引入了数据跟踪功能。 在JTAG引脚中包含SWD接口引脚,从而允许标准目标连接器中使用。引脚包含: TCLK-SWCLK(串行时钟) TMS-SWDIO(串行数据输入...
三、SWD串行线调试 SWD,Serial Wire Debug(串行线调试)模式是标准JTAG接口的替代方法,它仅使用两个引脚即可提供与JTAG相同的调试功能,而不会降低性能,并通过串行线查看器(SWV)引入了数据跟踪功能。 在JTAG引脚中包含SWD接口引脚,从而允许标准目标连接器中使用。引脚包含: ...
2. JTAG接口JTAG接口通常是连接到芯片的4/5针接口:TDI(测试数据输入)TDO(测试数据输出)TCK(测试时钟)TMS(测试模式选择)TRST(测试)黄3 SWD串行线调试SWD,串行线调试(serial wire debug)模式是标准JTAG接口的替代方法,它仅使用两个引脚来提供与JTAG相同的调试功能,而不会降低性能,并且引入了通过串行线查看器(SWV)...
SWD 外部SWD接口需要两个引脚: 双向SWDIO信号 时钟SWCLK,可以从设备输入或输出 2.2 APB-AP 2.3 APB-MUX DAP-Lite的APB多路复用器(APB-Mux)使外部工具和系统可以访问调试APB。 APB-Mux将多个接口封装到单个可交付组件中,从而使多主设备可以访问调试APB。
ADI[3]架构定义了Arm-based SoC与外部的物理连接(JTAG/SWD)规范 ADI—Arm Debug Interface Coresight这个名字的含义意在给用户提供一种对内核的可见性(visibility)。 包括Arm自己的旧版设计套件RealView,以及RISC-V阵营的Sifive Insight都表达了同样的含义
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ADI中定义了一个单一的外部调试设备物理连接接口:DebugPort(DP)。ADI允许三种不同的DP实现:JTAG-DP,SWD-DP,SWJ-DP。其中JTAG-DP即为经典的JTAG调试机制物理接口,而SWD-DP则是ARM新引入的两引脚串行线调试结构。SWJ-DP则为JTAG/SWD二合一接口。 同时,ADI还定义了访问接口:AccessPort(AP)。AP为DAP与被调试资源的...