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CM300xi探针系统在完全模块化的解决方案中提供了测量精度和可靠性-无论是在一个半自动系统中进行IV / CV,RTN和RF测量,还是可以处理200 mm任意组合的全自动双探针系统和300毫米晶圆。 正在进行研究的一个领域是直接探测互连3D堆叠芯片的细间距微凸块。需要细间距,低力探针卡和高精度探针,以及我们的组合PyramidProbe...
The CM300xi supports Contact Intelligence™ – a unique technology which enables autonomous semiconductor test. A powerful combination of innovative system design and state-of-the-art image processing provides an operator-independent solution to achieve highly-reliable measurement data at any time and ...
FormFactor 的新型 CM300xi-ULN(超低噪声)是一种革命性的 300 毫米晶圆探测系统,专为高精度闪烁噪声 (1/f)、随机电报信号噪声(RTN 或 RTS)和超灵敏设备的相位噪声测量而设计。 凭借PureLine 3 技术,ULN 探测系统消除了先前探测系统中 97% 的环境噪声,并为超低噪声测量建立了新的行业黄金标准。
FormFactor 的新型 CM300xi-ULN(超低噪声)是一种革命性的 300 毫米晶圆探测系统,专为高精度闪烁噪声 (1/f)、随机电报信号噪声(RTN 或 RTS)和超灵敏设备的相位噪声测量而设计。 凭借PureLine 3 技术,ULN 探测系统消除了先前探测系统中 97% 的环境噪声,并为超低噪声测量建立了新的行业黄金标准。
FormFactor 的新型 CM300xi-ULN(超低噪声)是一种革命性的 300 毫米晶圆探测系统,专为高精度闪烁噪声 (1/f)、随机电报信号噪声(RTN 或 RTS)和超灵敏设备的相位噪声测量而设计。 凭借PureLine 3 技术,ULN 探测系统消除了先前探测系统中 97% 的环境噪声,并为超低噪声测量建立了新的行业黄金标准。 当与噪声测试...
CM300xi-SiPh 300 mm探针台是市场上首个经过验证的集成测量解决方案,可在安装后立即进行经过生产验证的优化光学测量,无需进一步开发。该探针台支持Contact Intelligence™,这是一种创新技术,能够检测环境变化并作出反应,以优化探针接触准确度,从而实现自主型半导体
供应德国formfactor探测系统CM300xi手动探针 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准。 特别提示:商品详情页中(含主图)以文字或者图片形式标注的抢购价等价格可能是...
PureLine 3 technology is integrated into many components of the CM300xi-ULN probing system, including the following six: 1. ULN MicroChamber This provides the critical probing environment built into the prober and directly surrounding the DUT and wafer chuck area for low noise testing. The newly...
压板提升和手动XY旋钮是FormFactor的一部分3D手动控制用于CM300xi探针台。它们使您能够在X和Y上进行符合人体工程学的手动调整，并控制分离距离。 3D手动控件是所有新CM300xi探针台均可使用的可选功能。可根据要求对现有机器进行现场升级。如果您有关于探针台的购买和安装问题，请联系天津芯睿半导体科技有限公司。