声学扫描显微镜（C-SAM，全称为C-Mode Scanning Acoustic Microscope）是一种非破坏性检测技术，用于分析材料内部结构及其缺陷，特别是在层间分层、气泡、裂纹、空隙等微观缺陷的检测方面具有独特优势。C-SAM广泛应用于电子元件、半导体、复合材料等领域。1. C-SAM的工作 C-SAM的工作原理基于超声波的传
超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质传输超声波信号,当讯号遇到不同材料的界面时会部分反射及穿透,此种发射回波强度会因为材料密度不同而有所差异...
C-SAM是利用频率高于20KHz的超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器,主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。是一项非破坏性的检测组件的完整性,内部结构和材料的内部情况的测试,作为无损检测分析中的一种,它可以实现在不破坏物料电气能和保持结构完整性的前提下对物料进行检测。 3.脉冲回波...
原理：扫描声学显微镜(C-SAM)可利用超声脉冲波探测产品内部空隙等缺陷。超声换能器发出一定频率的超声波，经过声学透镜聚焦，由耦合介质传到样品上。超声换能器由电子开关控制，使其在发射方式和接收方式之间交替变换。超声脉冲透射进入样品内部并被样品内的某个界面反射，形成回波，其往返的时间由界面到换能器之间的距...
超声波扫描显微镜:英文名是:Scanning Acoustic Microscope,简称SAM,由于它的主要工作是超声C扫描模式,因此也简称:C-SAM、或者SAT。是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备。 原理是通过向被测物发射…
超声扫描显微镜C-mode Scanning Acoustic Microscope简称C-SAM,是用于检测物体表面、内部区域及内部投影,产生高分辨率特征图像的检测技术。由于它能获得反映物体内部信息的声学图像而被广泛应用于无损检测领域，是一种非破坏性的检测技术。C-SAM的应用领域 C-SAM可以检测物体内部的缺陷和结构，具有广泛的应用范围，广泛应用...
C-SAM(C-Mode Scanning Acoustic Microscope)是一种非破坏性检测技术,主要用于分析材料内部结构及其微观缺陷,如分层、裂纹和空隙等。它基于超声波的传播和反射特性,通过发射超声波进入样品内部,并接收反射信号,生成二维或三维图像,以展示材料内部结构的分布和缺陷情况。C-SAM广泛应用于电子元件、半...
在检测时，做X-ray检测，可以非常清晰地看到芯片边缘的Pad，但无法观察到芯片中间粘接处的缺陷，C-Sam则弥补了这个缺陷，可以非常清楚地看到芯片中间粘接处的分层缺陷。结论：X-ray主要针对PCB、PCBA、BGA、SMT等进行焊点检查，是否存在裂缝、开路、短路、空洞、分层等缺陷。X-ray对样品外观尺寸没有要求，圆形、不...
C-SAM基本操作手册及了解.pdf,基本操作手冊 開關機步驟 : 1. 開機:先開電腦電源,待電腦進入到 windows 桌面後,再開機台電源。 2. 進入 Windows 桌面後,連點兩下桌面上的捷徑 VHR 程式即可進入,進入後按登入, 再按確定即可。 3. 關機:關閉 VHR 程式後,先將機台電源關閉,
c-sam,中文全称为:超声波扫描显微镜,或超声波显微镜,半导体业界通常都直接简称为c-sam,或sat,主要应用到半导体器件的后封装检测当中。 c-sam简介 c-sam,是scanning acoustic microscope的缩写,c是一种工作方式,通常称为c扫描。因此在很多半导体器件封装厂,大家也就称为c-sam了。 其主要是针对集成电路(芯片)、大...