同步辐射丨球差电镜丨FIB-TEM 原位XPS、原位XRD、原位Raman、原位FTIR 加急测试 王老师 198 2262 5523 www.micetech.cn
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谢谢你的回复,我知道Si-O-Si在821cm也有一个峰,但是就我图上的一个大峰来说,由于C-F只有一个峰...
我学校只有红外仪器,没有XPS,所以只能用红外测。本人是新虫,第一次发贴,请各位前辈多指教。
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采用等体积浸渍法制备Ni/C 及其双金属催化剂,以XPS 和TPR 技术表征了其表面组成和还原性能,并在加压固定床反应器装置上考察了催化剂的羰基化活性.结果表明:在Ni/C 催... 杨彩虹,韩怡卓,李文彬 - 《天然气化工(C1化学与化工)》 被引量: 26发表: 1999年 Use of adenine-derived compounds for the treatment...
XPS是一种表面分析技术,可以用于研究材料表面的元素组成、化学状态以及电子结构。对于碳氢单键的XPS分析,可以观察到碳元素和氢元素的特定电子结合能峰。但是,XPS分析对于轻元素的灵敏度较低,需要采用一些特殊的技术来提高氢元素的检测灵敏度。
在XPS分析中,nb-n键通常指的是铌(Nb)和氮(N)之间的化学键。这种键在多种材料中都可能出现,特别是在涉及铌的氮化物或氮掺杂的铌基材料中。在nb-n键的XPS分析中,你会看到与氮和铌相关的特定能量峰。这些峰的位置和形状可以提供关于nb-n键的键合状态、键能以及可能的化学键合类型(如离子键、共价...
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