XPS 光谱解读 外来碳污染通常用作 XPS 能谱的荷电基准。 外来C1s 谱图通常有 C、C-O-C 和 O-C=O 峰。 默认情况下,可将 C-C 峰的结合能设置为 284.8 eV。 但该荷电基准值并非一直有效(例如:铝天然氧化物上的外来碳的 C1s 峰出现在约 286 eV 处)。 样品上几纳米的外来碳会显著影响该样品...
XPS峰位选择还是比较重要的,一般的情况是找到污染碳,即C-C或者C-H,并且指认为284.8,但是有几个问题,即上面第二点讲的,是不是把最右侧结合能最小的碳峰指认为C-C或者C-H即284.8就是对的。 1.如果你的样品本身没有碳,一般情况下,测到的碳信号就是污染碳,指认成284.8即可; ...
再复杂一点的情况,如果这种碳材料样品中碳元素除了饱和碳(C-C)化学态以外,还含有其它形式化学态,比如C-O、C-N、C=O、C=N等,并且这些化学态占据主导,对应谱峰的强度强于C-C峰。如下图所示。 这个时候需要做的就是首先要识别出C-C峰,然后以C-C峰的峰位为基准进行校正即可。 ②样品中含碳,碳元素主要以...
氮元素的峰位置通常在397-412 eV范围内。N1s峰的宽度和化学环境有关,N1s的化学环境主要有几种:吡啶氮(N原子连给芳香环)、吡啶氮(N原子与C原子单键连接)和氨基等。 四、金属元素的峰位置 金属元素在XPS中通常出现可以被忽略的信号或者说峰系。金属的2p3/2峰一般出现在高于300 eV的能量范围内,但是信号弱,而...
xps校正用最强的C峰。需以C为校准峰进行荷电校正C单质的标准峰位一般284点8减实际测得的C单质峰位等于需平移的，校正的目的是为了避免仪器误差，校正的原则是让C1s的峰位和标准峰位重合。xps校正用最强的C峰的方法 首先我们要会看XPS高分辨谱原始数据，我们将各元素的高分辨谱的关键数据各元素的结合...
在XPS分析中,当碳(C)与其他元素形成化学键时,其结合能会发生变化,导致在谱图上出现多个峰。 对于C=O键,通常在XPS谱图上会出现一个对应于C 1s电子的结合能峰。这个峰的位置可能会受到分子中其他元素和键的影响,但通常位于约287-289 eV的范围内。为了准确地确定C=O键的结合能,可以使用分峰拟合的方法。 分...
C的XPS峰有3个，分别在282,284,286左右，求解。谢谢！
Besides, for the XPS fitting, the FWHM of each species should always be consistent.后面这句话我...
拉曼光谱中所有样品在1330 cm−1, 1577 cm−1, and 2659 cm−1都有峰,与石墨相比和FeCl3-EG,FeCl3-GIC具有最高的0.52 的ID / IG比率,表明在插入过程中结构变形和扩张后的石墨结构的恢复过程,这结果也符合XRD图谱。XPS光谱显示在199、285、532和711 eV之间有四个峰值,分别对应于Cl2p、C1s、O1s和Fe2p...
特别是Fe1-NSC比Fe1-NC表现出略低的边缘吸收能,表明S的加入导致Fe位点的电子密度富集,该分析与XPS结果一致。FT-EXAFS光谱显示,Fe1-NSC、Fe1-NC和FePc在1.4 Å处出现了Fe-N键特征峰,而没有Fe-Fe键 (2.1 Å) (图2e)。这...