检测第一位Scan-Out 数据。将故障响应通过扫描链送至原始输出端。此时，scan_enable为1，扫描触发器工作...
然后enable clock来驱动寄存器，在Scan-In端输入测试数据，两个时钟周期后，数据便会送到组合逻辑的输入...
数码锁定。设置在系统启动时数码灯(NumLock LED)是否点亮。设为“DISABLE”则数码灯保持灭,设为“ENABLE”则在系统启动时点亮数码灯。 Keyboard NumLock 键盘数码锁:该选项用来设置在系统启动时是否提示键盘相关的错误信息。 Enable Keypad 启用小键盘:设置为“BY NUMLOCK”在NumLock灯亮并且没有接外接键盘时启用数...
然后enable clock来驱动寄存器，在Scan-In端输入测试数据，两个时钟周期后，数据便会送到组合逻辑的输入...
/* BIST enable data check.*/ Tst_DDR_CTL->DENALI_CTL_194 |= 0x1000000; /* BIST disable address check.*/ Tst_DDR_CTL->DENALI_CTL_195 |= 0x1; /* BIST start address 1.*/ Tst_DDR_CTL->DENALI_CTL_197 = 0x00000000; /* BIST test mode.*/ ...
2.把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 3.测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,两个时钟周期后,数据便会送到组合逻辑的输入端。
我正在使用 TLK2711-sp 器件。 上电复位条件、我是怎么做的 1)为电路板通电。 2) laod 位文件、则 GTXCLK 将可用。 3) 3)我已通过将 ENABLE 设置为1来启用器件、并且我已将 lckrefn 设置为"1"。 4) 4)然后、我在1ms 的时间内将 lloopen 启用为"1"。
2.把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 3.测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,两个时钟周期后,数据便会送到组合逻辑的输入端。
Other Parts Discussed in Thread: DS90UB927Q-Q1, Hi Team,My customer is evaluationg DS90UB928Q-Q1 with DS90UB927Q-Q1.He wants to enable/disable BIST mode by I2C through BCC(bidirectional control channel) from DS90UB927Q-Q1.I heard he could enable BIST mode however c...
Implementation of Hold Enable BIST Controller for Fault Detection in Logic Circuits Implemented on FPGAToday Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) are widely used in many applications. Complicated integrated circuit chips like FPGAs are prone to different types of Faults due to environmental conditions...