Sinton少子寿命测试仪-WCT-120MX单晶多晶硅片性能测试 ¥ 360000.00 商品描述 价格说明 联系我们 咨询底价 品牌: Sinton 测量原理: QSSPC(准稳态光电导) 电阻率测试范围: 0.5–300 Ohm-cm 少子寿命测量范围: 100 ns-10 ms 测试模式: QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 载流子注入范围: 1013-1016cm-3 ...
少子寿命测量仪BCT-400是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
新品库存 少子 上海焕尧机电设备有限公司 2年 查看详情 ￥9000.00/件 广东深圳 供应美国Sinton BCT-400/BLS-I少子寿命测量仪套件 少子 深圳市湾边贸易有限公司 4年 “bct-400少子寿命仪”的结果有点少,为您展示“少子寿命仪”的结果,您也可直接去问我~ 去提问 ...
BLS-I/BCT-400少子寿命测试仪●非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命●涡电流法量测技术符合SEMIZX的PV13标准●相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪●Wafer厂品质监控必不可缺的量测设备,拥有广泛的客户群。 详细介绍 ...
少子寿命测试仪故障翻译 热度: BCT‐400 SintonInstrumentsOutlineutline •Lifetimetheory •BCT‐400hardwareCT400hardware •BCT‐400software Lifetime原理ifetime原理载子寿命,τ,,子寿命,τ,, —过剩载流子的平均复合时间 决定扩散长度D决定扩散长度,, ...
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