-Tessent FastScan 不带压缩 -Tessent TestKompress 有EDT压缩模块 -Tessent Scan 做scan insertion -Tessent Diagnosis 定位错误点 -Tessent MemoryBIST(Shell) -Tessent LogicBIST(Shell) - Tessent Scan / ScanPro 启动命令:tessent - shell(默认启动模式:setup) 3个模式模式: setup——定义当前上下文并指定/加载...
对节点,有两种; 对path:有起点终点; 一般都不测bridge,16nm以上的都不会用。 lastshift:launch是shift的最后一个阶段,capture是capture system clock· launch和capture 都是在se=0的阶段的两个pulse multi…
Scan and ATPG Scan 是一种通过改变内部电路连接方式,以增加可测试性技术的方法。ATPG 是 Automatic Test Pattern Generation 的缩写,正如其名字表达的那样,ATPG 是自动生成 Pattern 的工具。从另一个角度来说,Scan 电路能够使检测上述故障的测试向量生成过程更加容易。 图3:一个典型的时序电路(在 scan insertion ...
1. scan hierarchy的结构及其意义 2. wrapper cell, 什么情况下做shared wrapper cell和dedicated wrapper cell,dedicated cell的设置条件 3. occ 结构,scan clock的安排,如果使用ssn,ssn的clock频率和shift 频率 4. pattern count limit for stuck-at/transiton mode? abort limit setting? 5. pattern simulation,...
ScanandATPG（Tessent）---1.基础概念 1、测试的⽬的 筛选出有错误的芯⽚。2、测试的类型 功能测试——验证电路的功能。制造测试——验证设计有没有制造缺陷 制造试验类型：扫描测试、扫描压缩测试、BIST(Memory test、Logic test)3、什么是scan test 使内部电路可控、可观测。4、制造缺陷 短路、断路、桥接等...
对于时序电路,因存在时钟同步和状态保持问题,覆盖率提升需结合扫描链(Scan Chain)等DFT技术。 电路类型适配 组合逻辑电路ATPG生成效率较高,而时序电路需增加时间帧扩展(Time Frame Expansion)处理,如通过PODEM算法解决多周期路径传播问题。 二、关键技术方法与实现流程 算法演进 D算法:首个结构化ATPG...
Fast Scan 如图2所示,当项目属于极小规模时(寄存器数量小于2万),且管脚资源充分,每条scan chain都可以直接和pad连接,这种情况无需压缩逻辑,复杂度低,这时我们可以整个chip一起做scan insertion和ATPG,这种Scan测试架构称为Fast Scan。 图2 Full chip ATPG ...
Fast Scan 如图2所示,当项目属于极小规模时(寄存器数量小于2万),且管脚资源充分,每条scan chain都可以直接和pad连接,这种情况无需压缩逻辑,复杂度低,这时我们可以整个chip一起做scan insertion和ATPG,这种Scan测试架构称为Fast Scan。 图2 Full chip ATPG ...
procedure capture =timeplate tp0; cycle = force_pi; measure_po; force scan_en 0; pulse_capture_clock; end ;end; 5. 测试覆盖率 测试覆盖率是衡量ATPG生成的测试向量有效性的重要指标。主要包括: 测试覆盖率(TestCoverage):工具可以生成向量进行检测的故障与总的可测故障的百分比。
市场上主流的ATPG工具包括：Synopsys公司的TetraMax，提供全面的ATPG解决方案。Mentor公司的Tessent Fastscan和TestKompress，专注于高速和高效的测试向量生成。Cadence公司的Encounter Test和Modus，结合了先进的测试算法和设计流程。Tessent ATPG详细流程 Tessent ATPG作为一种广泛应用的ATPG工具，其基本流程包括：初始化ATPG...