Video: System-on-chip ATPG with Tessent SSN June 26, 2023 Learn how Intel adopted Tessent SSN packet-based ATPG and reduced test time by 34% in this video recorded at the 2023 North America U2U symposium. By Tessent Solutions < 1 MIN READ Video: Developing DFT flow for 3D IC at Broadc...
ATPG,即Automatic Test Pattern Generation ,是DFT(Design for Testability,可测试性设计)中常用的技术,用于自动生成测试向量。 其原理为:基于一定的算法,通过对电路的描述,自动生成能够检测到电路中所有故障的测试向量。前提是插好scan chain,然后才能通过ATPG来进行DFT。 测试过程为:测试是向一个处于已知状态的对象施...
在执行ATPG之前，覆盖率报告会将所有testable faults归类为UC。然而，在执行ATPG之后，如果某个故障同时属于UC和UO，那么它将被单独归类。另外，由于设置ATPG abort limit可能导致UC和UO的出现，因此这种情况下的UC和UO被称为ATPG Abort。综上所述，ATPG技术在现代芯片设计和制造过程中发挥着至关重要的作用。通过合理...
ATPG的原理基于逻辑故障模型。逻辑故障指的是在IC中的电路逻辑中出现的错误,例如线路短路、线路开路、传输错误等。ATPG利用逻辑故障模型,通过自动生成测试模式,来检测IC中的这些故障。 ATPG的核心是生成测试模式。测试模式是一组输入信号,用于刺激IC,以便检测其中的故障。ATPG通过分析IC的逻辑电路,找到可能的故障点,并生...
ATPG是一种自动化的测试程序生成技术,它可以自动生成测试程序,以检测芯片的功能和性能。 ATPG在通信中的应用是用来测试通信芯片的功能和性能,以确保其正常工作。ATPG可以自动提取有效的测试信号,以检测芯片的功能和性能,从而确保芯片的正常工作。此外,ATPG还可以用来测试通信系统的功能和性能,以确保其正常工作。 ATPG在...
配置ATPG:设置故障类型和采样率。 产生测试向量:创建测试向量并统计结果。 保存测试向量:以不同格式保存测试向量,供后续使用。 4. Tessent ATPG输入文件的介绍 ATPG输入文件包括: 扫描网表文件:描述设计的扫描链结构。 ATPG库文件:定义底层门级单元的功能模型。
atpg 语法 ATPG（Automatic Test Pattern Generation）是一种用于自动生成测试模式的方法，用于检测数字电路中的故障。ATPG的语法通常由一系列指令和参数组成，用于描述测试模式和测试流程。ATPG语法通常包括以下部分：1. 指令：ATPG语法中的指令用于描述测试模式和测试流程。例如，常见的指令包括“生成测试模式”、“将测试...
测试向量自动生成(Automatic Test Pattern Generation,ATPG)在数字电路测试领域具有非常重要的地位,不仅影响产品的生产设计成本,而且是评价产品可靠性的重要环节。那么这些向量自动生成依据是什么,在此我们介绍几种基本算法。 2.随机测试生成 首先是随机测试生成算法,随机测试生成能随机选择测试向量。当电路中存在许多未被检...
atpg语法 ATPG (Automatic Test Pattern Generation)是一种用于半导体芯片测试的自动生成测试模式的技术。它的语法可以分为三个主要部分:模式描述、约束条件和测试结果描述。 在模式描述中,ATPG使用一种类似于硬件描述语言的语法,描述需要进行测试的电路的结构和功能。它可以描述寄存器、逻辑门、输入输出端口等。例如: `...