RR: E04-1008 用于完全再结晶多晶材料中使用电子背散射衍射(EBSD)测定平均晶粒尺寸的标准实践的国际实验室研究 本研究旨在为ASTM E2627-10标准实践建立精度和偏差声明,该标准涉及在完全再结晶的多晶材料中使用电子背散射衍射(EBSD)技术测定平均晶粒尺寸。研究通过728号国际实验室研究进行,旨在验证和确立该方法的精确
ASTM E2627-13(2019) 引用标准 ASTM E112 ASTM E1181 ASTM E1382 ASTM E177 ASTM E691 ASTM E7 ASTM E766 购买 正式版 1.1 这种做法用于通过多晶材料的自动电子背散射衍射 (EBSD) 扫描对晶粒面积的测量来确定晶粒尺寸。 1.2 本实践的目的是标准化自动 EBSD 仪器的操作,以直接从晶体取向测量 ASTM G。