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E-112测定平均晶粒尺寸 简介 这些金属材料平均晶粒尺寸的测试方法主要是测量程序,由于它们的纯几 何基础,因此与所涉及的金属或合金无关。实际上,基本程序也可用于估计非 金属材料中的平均晶粒、晶体或单元尺寸。如果材料的结构接近标准比较图之 一的外观,则可以使用比较法。拦截法和平面计测法始终适用于确定平均晶粒...
实验室在 ASTM E112 测试标准范围内提供测试和合规服务。 该标准涵盖了平均晶粒尺寸的测量，包括比较程序、平面（或 Jeffries）程序和切割程序。 这些测试方法也适用于外观与对比图表中显示的金属结构相似的非金属材料。 这些测试方法主要适用于单相晶粒结构，但它们也可用于确定多相或多组分样品中特定晶粒结构的平均尺...
E-112 测定平均晶粒尺寸 简介 这些金属材料平均晶粒尺寸的测试方法主要是测量程序,由于它们的纯几何基础,因此与所涉及的金属或合金无关。实际上,基本程序也可用于估计非金属材料中的平均晶粒、晶体或单元尺寸。如果材料的结构接近标准比较图之一的外观,则可以使用比较法。拦截法和平面计测法始终适用于确定平均晶粒尺寸。
中译文ASTMINTERNATIONAL测定平均晶粒度的标准试验方法StandardTestMethodsforDeterminingAverageGrainSize01年11月
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ASTME112-2013平均晶粒度测定的试验方法标准第4页共49页1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量,也就是试样截面显示出的二维晶粒;不适用于试样三维晶粒,即立体晶粒尺寸的测量。1.4试验可采用与一系列标准评级图进行比较的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或自动图象分析仪测定晶粒度的方法...
ASTME112中文修订版33符号两相显微组织中的基体晶粒测量面积截面上的平均晶粒面积晶粒伸长率和晶粒纵向伸长率平均平面晶粒直径评级图平均空间体积晶粒直径面积法的jeffries乘数显微晶粒度级别数平均截距在两相显微组织中的基体晶粒上的平均截距非等轴晶粒纵向面上平行变形方向的平均线截距非等轴晶粒横向面上垂直变形方向的平均...
ASTME112中文修订版 金属平均晶粒度测定方法 引言 本标准规定了金属材料平均晶粒度的基本方法。由于纯粹以晶粒几何图形为基础，与金属和合金本身无关。因此，这些基本方法也可以用来测量非金属材料中晶粒、晶体和晶胞的平均尺寸。如果材料的组织形貌...
这个标题是在介绍一种新的金属组织测量方法,名为ASTME112版本未知平均晶粒尺寸测试方法中文非官方主要内容包括方法的定义参数实例以及结果详细信息可以在这里查找 金属平均晶粒度测定方法 范围 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒外形与标准系列评级图相像的非金属材料。这些方法主要适用于...