ASIC2Flow中的DFT主要包含以下几种基本算法：1.扫描链（Scan Chain）：通过在设计中引入扫描链，使得芯片内部的寄存器能够按照顺序被扫描进入和扫描出来，以便进行故障检测和测试。2.自适应测试（Built-In Self-Test，BIST）：在芯片内部集成一定的测试模块，能够对芯片进行自动的故障检测和测试，减少对外部...
在ASIC Flow中,DFT是确保芯片可靠性和可测试性的关键一环。扫描链、BIST、Boundary Scan、Memory BIST和Logic BIST是常用的DFT方法。通过集成这些方法,可以在芯片设计中实现有效的测试和故障排除机制,提高芯片的品质和稳定性。 以上是ASIC Flow中DFT的基本方法的详细介绍。希望本文能够帮助读者更好地理解和应用DFT技术...
设计测试(DFT)强调可测试性应该是设计目标的核心,目的是排除一个芯片的设计缺陷,捕获芯片在物理上的缺陷问题。 ASIC设计要求提供测试结构和测试系向量。FPGA等默认生产厂商已经进行了适当的测试。测试的10/10原则:测试电路的规 模不要超过整个FPGA的10%,花费在设计和仿真测试逻辑上的时间不应超过设计整个逻辑电路的10...