分析测试中心新购置一台场发射透射电子显微镜(JEM-ARM200F),目前已基本完成安装与调试,自2024年10月08日起试运行。 01 仪器介绍 JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜,可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能...
阿里巴巴原装 JEOL 日本電子株式会社分辨率分析电子显微镜 ARM200F,LCD显示屏,这里云集了众多的供应商,采购商,制造商。这是原装 JEOL 日本電子株式会社分辨率分析电子显微镜 ARM200F的详细页面。品牌:JEOL 日本電子株式会社,种类:OLED屏,是否跨境出口专供货源:否,触
日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
高分辨透射电镜[JEOL ARM-200F](JEOL Atomic Resolution Mciroscope) 所在单位:中国科学技术大学 品牌/型号:JEOL公司,JEOL ARM-200F 所在地区:安徽省 仪器说明:我们目前尚未与中国科学技术大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交...
NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用日本电子独自开发的像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由...
日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s ...
型号 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM 日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚...
捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。标配照明系统球差校正器,且限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了的STEM-HAADF...详细介绍 捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配了照明...
日本电子株式会社(社长 栗原 権右衛門)宣布:新型原子分辨率分析型电子显微镜JEM-ARM200F “NEOARM”开发了, 于2017年6月开始销售。 开发背景 现在,配备球差校正器的透射电子显微镜几乎已成为高端研究场所的标准配置,本公司已经向全世界输送了近200台球差校正透射电镜。
“NEOARM"标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR) 详细介绍 “NEOARM" 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动...