分析测试中心新购置一台场发射透射电子显微镜(JEM-ARM200F),目前已基本完成安装与调试,自2024年10月08日起试运行。 01 仪器介绍 JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜,可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能...
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF...
NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用日本电子独自开发的像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由...
ARM200F 320*240 128*64 500 见参数 0 2 0套 | 0元 立即订购加入进货单 收藏产品 品牌 JEOL 日本電子株式会社 种类 OLED屏 是否跨境出口专供货源 否 触摸功能 带触摸功能 应用领域 家用电器 产品规格 ARM200F 60kV200kV 狭缝宽度0.002 秒0.1秒0.002 秒0.1秒 ...
日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外,新型STEM...
日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s ...
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“NEOARM"标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR) 详细介绍 “NEOARM" 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动...
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