原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种强大的分析仪器，能够研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构。它通过检测样品表面与微型力敏感元件之间的微弱原子间相互作用力，揭示物质的表面细节和性质。在材料研究中，AFM展现出了卓越的应用价值。原子力显微镜的操作模式是影响成像效果的关键因素。根据针尖与试样表面相互作用力的
AFM进阶：操作技巧与案例分析 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种能够实现纳米级分辨率观测的显微技术，它通过检测样品与一个尖锐的探针之间的相互作用力来获取表面的三维形貌；AFM不仅在材料科学、生物学和纳米技术等领域有着广泛的应用，而且还在不断发展和完善中。一、操作技巧 1. 样品准备 - ...
启动AFM: 启动AFM系统,并等待其初始化。 进行扫描: 开始AFM扫描,观察样品表面的拓扑图像。 步骤6:获取数据 记录数据: 在扫描过程中,记录AFM获得的数据,包括高度、力曲线等。 保存图像: 保存获得的拓扑图像和其他相关数据。 步骤7:数据分析 分析图像: 使用AFM软件对获得的拓扑图像进行分析,提取表面特征和高度信息。
a.使用显微镜透视系统观察样品表面,通过样品位置调整器上的粗调按钮将探头向样品移近,直到探头与样品表面接触。 b.利用AFM控制软件中的Z轴控制器进行微调,并观察探头与样品表面的接触力变化。 6.开始扫描: a.使用AFM控制软件中的扫描按钮启动扫描过程。 b.观察和监控扫描过程中的实时图像,并调整扫描参数以获得清晰...
AFM（Atomic Force Microscope）原子力显微镜是一种能够实现对试样表面形貌和表面性质的高分辨率成像和测量的仪器。下面是AFM原子力显微镜的操作步骤：1.准备工作：确定试样种类和尺寸，根据需要挑选合适的扫描模式、扫描速率和探针。2.系统开启：打开电源，并按照厂家提供的操作手册启动电脑上的AFM软件。3.校准仪器：a....
此外，AFM还具备力测量功能，通过测量悬臂的弯曲程度来精确确定针尖与样品之间的作用力大小。图1展示了AFM的三种操作模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。接下来，我们将探讨原子力显微镜在集成电路制造工业中的三大应用领域。第一类应用：SCM（扫描电容显微术）在集成电路制造中，原子力显微镜的一种重要应用是SCM（扫描...
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原子力显微镜(AFM)系列讲座第一讲-原子力探针显微术基础及其研究进展-基础理论,仪器与方法基础 449 2 20:48 App (youtube油管)电化学原子力显微镜(EC-AFM) 铜颗粒在金表面的沉积溶解 715 -- 2:19 App 1-1原子力显微镜的原理 1031 -- 27:30 App 用原子力显微镜研究热电材料中的缺陷物理 3191 -- 1:...
AFM原子力显微镜操作步骤 1. AFM仪器开机。 确认电源与控制机箱连接线无误后,依次打开计算机电源→机箱低压电源→高压电源→激光器电源。 2.安装样品以及探针进给。 安装好样品后将固定螺栓微微旋紧,切记勿要用死力!探针进给指的是将样品与探针逼近到进入原子力状态。仪器提供粗调和细调两种进给机构,每次测试前先将...
原子力显微镜操作过程 1■开电源插排; 2■打开电脑和两个显示器; 3.打开SPM电控柜(SPM Controller); 4.打开XY样品台控制器(XY -Stage Controlle); 5■打开白光光源 (Light Source)(右侧显示器后面); 6■打开XEC视频软件; 7■打开XEP软件; 图1 8■调整XY光学镜(如图2最上面两个螺栓),并结合点击图3中①...