其中，表面平均粗糙度Ra和均方根粗糙度Rq是衡量粗糙度的重要参数，数值越小表示表面越光滑。此外，我们还可以利用AFM生成的三维图来更直观地展示样品表面的细节。相位图（phase image），作为轻敲模式的一种重要扩展，通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源与实际振动之间的相位差来生成图像。当悬臂与样品之间的相互作用发...
图片来源:https://www.nanosurf.com/en/support/afm-modes-overview/contact-modes#modes 相位图(phase image),是轻敲模式的一项重要的扩展技术,相位模式是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差(即两者的相位差)的变化来成像...
图2 石墨烯片层的厚度和尺寸测量 (3)相图(Phase) 相图是AFM轻敲模式下的一种重要扩展技术,因表面抵挡及黏滞力的作用,会引起振动探针的相位改变量,而抵挡及黏滞力的差异由不同材料性质引起,因此相位差可以用于观察表面定性材质分布状况。 图3 沥青微观形貌三相图 (4)KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针...
(3)相图(Phase) 相图是AFM轻敲模式下的一种重要扩展技术,因表面抵挡及黏滞力的作用,会引起振动探针的相位改变量,而抵挡及黏滞力的差异由不同材料性质引起,因此相位差可以用于观察表面定性材质分布状况。 图3 沥青微观形貌三相图 (4)KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜) KPFM通过测量探针与样品...
(3)相图(Phase) 相图是AFM轻敲模式下的一种重要扩展技术,因表面抵挡及黏滞力的作用,会引起振动探针的相位改变量,而抵挡及黏滞力的差异由不同材料性质引起,因此相位差可以用于观察表面定性材质分布状况。 (4)KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜) ...
AFM中虽然不能进行元素分析,但它在Phase Image模式下可以根据材料的某些物理性能的不同来提供成分的信息 2、晶体生长机理 在研究纳米晶生长机理的时候,人们希望用显微手段直接观察到晶面生长的过程,AFM为我们提供了在一个原子级观测研究晶体生长界面过程的全新有效工具。由于AFM的工作条件要求低,它可以晶体生长过程原子级...
The unassisted video acquisition, consisting of 600 consecutive AFM phase images taken with a line-rate of 48 Hz (256 pixels x 256 pixels, tip velocity of 600 µm/s) depicts very diverse cell surface dynamics, involving cytoskeleton reorganization, as well as plausible membrane events. X,Y ...
AFMAFM“相相成像成像”方式方式 (phase imaging)(phase imaging)得到的数据与样品表得到的数据与样品表面硬度和粘弹性有关,可以观察相分离即使在样面硬度和粘弹性有关,可以观察相分离即使在样品表面相对品表面相对“平坦平坦”的情况下的情况下, ,也能较好地反映出也能较好地反映出聚合物的相分离后聚合物的相分离...
In this paper we use Focused Ion Beam (FIB) microscopy to prepare surfaces from a layered polymer nanocomposite for investigation using phase contrast atomic force microscopy (AFM). Phase contrast AFM provides mechanical information on the surface examined and, by combining with the sequential cross-...
🔍 2.7nm -54.9nm -2.6nm -62.1nm,Phase Height Sensor 200.0nm 📊 6981pm -1.6nm -500.0pm Height Sensor 2.0um 📈 -Image Raw Mean 0.000000nm Image Mean 0.000000nm Image Z Range 10.0nm 📊 10.3nm 13.3nm -9.2nm Height Sensor 210.0nm这些功能使得AFM原子力显微镜成为科研和工业领域中不可或...