根据针尖与试样表面相互作用力的变化,AFM主要有3种操作模式:接触模式(contact mode),非接触模式(non-contact mode)和敲击模式(tapping mode)。 接触模式(Contact Mode):AFM最直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样...
根据针尖与试样表面相互作用力的变化,AFM主要有3种操作模式:接触模式(contact mode),非接触模式(non-contact mode)和敲击模式(tapping mode)。 接触模式(Contact Mode):AFM最直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样...
AFM测试成像模式 有三种基本成像模式,它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode) 1、接触式 接触式AFM是一个排斥性的模式,探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”,当针尖轻轻扫过样品表面时,接触的力量引起悬臂弯曲,进而得到样品的表面图形。由于是接触式扫描,在接触样品时...
（2）非接触式(Non-contact mode)：为了解决接触式AFM 可能损坏样品的缺点，便有非接触式AFM 被发展出来，这是利用原子间的长距离吸引力─范德华力来运作。Non-contact mode 的探针必需不与待测物表面接触，利用微弱的范德华力对探针的振幅改变来回馈。探针与样品的距离及探针振幅必需严格遵守范德华力原理，因此...
AFM测试原子力显微镜有三种基本成像模式,它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode) 1、接触式 接触式AFM是一个排斥性的模式,探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”,当针尖轻轻扫过样品表面时,接触的力量引起悬臂弯曲,进而得到样品的表面图形。由于是接触式扫描,在接触样品...
一、AFM的基本原理AFM利用微悬臂感受和放大悬臂上针尖与样品表面原子间的作用力，从而获得样品表面的形貌信息。AFM主要有以下三种测量模式：接触模式（Contact Mode）、轻敲模式（Tapping Mode）和非接触模式（Non-Contact Mode）。接触模式是最常用的测量模式，针尖与样品表面直接接触，通过反馈系统控制针尖与样品表面的...
原子力显微镜（AFM）有有三种基本成像模式，它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode)。想了解更详细的信息，可以咨询Park原子力显微镜。Park NX-Wafer全自动AFM解决了缺陷成像和分析问题，提高缺陷检测生产率达1000%。超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面...
缺点:由于针尖与样品分离,横向分辨率低;为了避免接触吸附层而导致针尖胶粘,其扫描速度低于Tapping Mode和Contact Mode AFM。通常仅用于非常怕水的样品,吸附液层必须薄,如果太厚,针尖会陷入液层,引起反馈不稳,刮擦样品。由于上述缺点,non-contact Mode的使用受到限制。
(3)非接触模式(Non-Contact Mode)针尖在样品表面的上方振动,始终不与样品表面接触。针尖检测的是范德华吸引力和静电力等长程力,对样品没有破坏作用。针尖-样品距离在几到几十纳米的吸引力区域,针尖-样品作用力比接触式小几个数量级,但其力梯度为正且随针尖-样品距离...