纳米红外AFM-IR(Atomic force microscopy-based infrared spectroscopy)技术是一种基于原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)的红外光谱技术,它结合了AFM的高空间分辨率和红外光谱的化学分析能力,实现了在纳米尺度上对材料进行表征。以下是关于纳米红外AFM-IR的技术原理和应用介绍: 纳米红外AFM-IR技术可以同时获取表面...
纳米红外技术(AFM-IR)是一种基于原子力显微镜的快速检测手段,它提供了常规的光学衍射极限分辨率以下的测试分析手段。原子力显微镜系统可以用于获得样品表面的形貌图像,脉冲可调谐的红外激光光源则用于激发测试样品中的分子吸收,两者结合,可以获...
AFM-IR 纳米红外 纳米红外技术是基于原子力显微镜的红外光谱技术(AFM-IR),使用AFM探针对样品局部通过红外吸收产生的热膨胀信号进行检测,因此,纳米红外不仅拥有AFM的空间分辨率,而且可以进行基于红外光谱的化学分析和成分分布成像。材料与器件...
AFM-IR纳米红外分析系统 半导体工程师 2024年09月22日 08:17 北京 厂家及型号：美国布鲁克 NanoIR3 技术指标 1. 样品扫描范围：XY方向50μm×50μm，Z方向>6μm；扫描分辨率：XY 0.2nm；Z:<0.1nm。2. 样品台X，Y移动范围8mm ×8mm，移动精度值200nm；3. 红外光谱扫描范围：800-3600cm-1；光谱...
2. 样品台X,Y移动范围8mm ×8mm,移动精度值200nm; 3.红外光谱扫描范围:800-3600cm-1;光谱分辨率:800-2700cm-1范围1cm-1; 2700-3600cm-1范围4cm-1。红外光谱图像空间分辨率:10nm。 4. 具备红外成像和连续红外光谱采集功能。 5. 纳米热学模块可以实现探针自加热,加热温度可达400℃;可以测量100nm分辨率以下的...
AFM-IR纳米红外分析系统 半导体工程师 2024年09月22日 08:17 北京 厂家及型号:美国布鲁克 NanoIR3 技术指标 1. 样品扫描范围:XY方向50μm×50μm,Z方向>6μm;扫描分辨率:XY 0.2nm;Z:<0.1nm。 2. 样品台X,Y移动范围8mm ×8mm,移动精度值200nm;...
AFM-IR测试是一种结合了原子力显微镜和红外光谱技术的方法,用于在纳米尺度上研究材料表面性质。在AFM-IR测试中,原子力显微镜用于获取样品表面的形貌图像,而红外光谱技术则用于激发和检测样品中的分子振动。通过将两者结合,AFM-IR测试能够提供高空间分...
AFM-IR是一种将原子力显微镜(AFM)和红外光谱(IR)结合起来的技术,用于在纳米尺度上进行化学成分分析和材料表征。对于SAM材料,AFM-IR可以通过红外吸收光谱来识别SAM的化学基团,这样可以区分SAM材料和基底,确认SAM在基底的分布情况。 AFM-IR原理:如下图所示,在测试AFM的同时,将一束红外激光达到针尖位置,激光和样品产生...
AFM-IR纳米红外分析系统 半导体工程师 2024年09月22日 08:17 北京 厂家及型号:美国布鲁克 NanoIR3 技术指标 1. 样品扫描范围:XY方向50μm×50μm,Z方向>6μm;扫描分辨率:XY 0.2nm;Z:<0.1nm。 2. 样品台X,Y移动范围8mm ×8mm,移动精度值200nm;...
对于超薄的SAM材料,要想表征其均匀性原子力显微红外光谱(AFM-IR)是最为合适的手段,这个技术好似SAM得黄金搭档。AFM-IR是一种将原子力显微镜(AFM)和红外光谱(IR)结合起来的技术,用于在纳米尺度上进行化学成分分析和材料表征。对于SAM材料,AFM-IR可以通过红外吸收光谱来识别SAM的化学基团这样可以区分SAM材料和基底,确认...