1.一种基于FIB设备定制AFM探针的方法,其特征在于,包括步骤: 提供FIB设备,将针尖基底和悬臂梁基底固定于样品台上并置于FIB设备的工艺腔室内; 利用聚焦离子束刻蚀从所述针尖基底上切取所需长度的针梢,且利用聚焦离子束刻蚀在所述悬臂梁基底的一端刻蚀出安装面; 将所述针梢的一端放置于所述安装面上,并利用聚焦离子束沉积将所述针