ESD机理与测试_AEC-Q100-002 ESD(electrostatic discharge)：摩擦生电使电荷聚集起来，当聚集有电荷的物体接触器件时，通过器件的管脚与地之间形成放电通道，当聚集的电荷足够多时，这样的快速放电，会形成很大的电流（几十安级），对微安或毫安级的集成电路来说，或造成严重损伤。损伤的可能情况如下：1，由于介质击穿...
汽⻋电子委员会元件技术委员会AEC - Q100-002 REV-EAEC - Q100-002 - REV-E⼈体模型静电放电测试附件22013 年 8 ⽉ 20 日Machine Translated by Google
AEC_Q100-002E 人体静电模型放电测试.pdf,AEC - Q100-002 - REV-E August 20, 2013 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-E HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST AEC - Q100-002 - REV-E August 20, 2
AEC - Q1 00-002 - REV-D July 18, 2003 Component Technical CommitteeAutomotive Electronics Council ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-D HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST
1. 静电放电人体模型(HBM) 1.1 试验信息 样品数量:1个批次;共 12 颗待测芯片 参考方法:AEC-Q100-002 脉冲次数:1 次 脉冲间隔:0.3 秒 测试电压:±500V/±1000V/±2000V 通过等级分类:通过等级H1C (±2000V) 测试脉宽:不适用 测试确认:芯片功能/性能测试(试验前后在室温和高温进行电测。)/I-V曲线对比 ...
Mark A. Kelly Delphi Delco Electronics Systems AEC - Q100-002 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Change Notification The following summary details the changes incorporated into AEC-Q100-002 Rev-D: Section 3.5, steps d, e, j, and k: Added wording...
参考标准:AEC Q100-002; 目的:验证器件对人体静电的抵抗能力; 试验通过判断依据:测试前后电流-电压曲线在参考电流下电压的改变量不超过30%以及包络线失效范围不超过±10%,芯片验证完成后FT常、高温测试pass; 实验室能力范围:能满足大部分类型芯片的HBM需求,有MK2平台,可提供768个通道; ...
AEC_Q100-002_rev_D AEC - Q100-002 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-D HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST
AEC-Q100-002-REV-D July18,2003 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil ChangeNotification ThefollowingsummarydetailsthechangesincorporatedintoAEC-Q100-002Rev-D: •Section3.5,stepsd,e,j,andk:Addedwordingtoallowlowervoltagelevelstressing(250 ...
AEC_Q100-002D (0)踩踩(0) 所需:1积分 2024年中国1,2-环氧丁烷行业研究报告.docx 2025-04-06 00:09:36 积分:1 installer-framework-everywhere-src-4.6.1.tar.xz 2025-04-06 02:08:28 积分:1 Yearly word of AI 合作阅读材料.docx 2025-04-06 02:57:57 ...