AEC - Q101 - REV - May 15, 1996 Component Technical CommitteeAutomotive Electronics Council ATTACHMENT 4 AEC – Q101-004 MISCELLANEOUS TEST METHODS
AEC-Q101-004-REV- May15,1996 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil Page1of5 METHOD-004 MISCELLANEOUSTESTMETHODS 1.SCOPE 1.1Description: Thisdocumentestablishestheprocedureandcriteriaforperformingmiscellaneousqualification testsreferredtoinTable2(ProcessChangeGuidelinesfortheSelectionofTests)ofAEC-Q10...
AEC-Q101最新的版本是Rev_E,发布于2021年3月,文件比较新,当前网上很难找到公开的中文翻译版文档。此篇翻译和解读,就是基于官方公开的英文版本为基础。 (编者注:首先大家要明确半导体集成电路和分立半导体器件的区别。 AEC Q100是针对半导体集成电路,也就是把很多PN节做到一块半导体芯片上组成复杂的功能,比如MCU、Dig...
AEC-Q101 认证为汽车级半导体分立器件应力测试,主要对汽车分立器件,元器件标准规范要求,如:车用光电耦合器:用于车用隔离件、接口转换器,光电耦合器,触摸屏控制盘,整卷分立器件等。 AEC-Q101认证包含了离散半导体元件(如晶体管,二极管等)最低应力测试要求的定义和参考测试条件,目的是要确定一种器件在应用中能够通过应...
AEC_Q101-004 AEC - Q101 - REV - May 15, 1996 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC – Q101-004 MISCELLANEOUS TEST METHODS
AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q102 车用分立光电半导体元器件可靠性验证测试 AEC-Q102-001 露水测试 AEC-Q102-002 电路板柔性测试 AEC-Q102-003 光电多芯片模块 (OE-MCM) ...
AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性 •破坏性物理分析 AEC-Q101-005 带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-006 12V系统智能电源器件短路可靠性表征 1.2.4 其他参考资料 IATF 16949 1.2.5 已取消的试验内容 AEC-Q101-002 Machine ...
AEC - Q101-004 - REV- May 15, 1996 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q101-004 Rev- MISCELLANEOUS TEST METHODS AEC - Q101-004 - REV- May 15, 1996 Automotive Electronics Council Component Technical Committee NOTICE AEC documents contain material that ...
AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性 •破坏性物理分析 AEC-Q101-005 带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-006 12V系统智能电源器件短路可靠性表征 1.2.4 其他参考资料 IATF 16949 1.2.5 已取消的试验内容 AEC-Q101-002 Machine Model...
AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性 •破坏性物理分析 AEC-Q101-005 带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-006 12V系统智能电源器件短路可靠性表征 1.2.4 其他参考资料 IATF 16949 ...