1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。然后将允许供应商进行声明,例如,“AEC-Q100符合ESD分类2的要求”。 1.3.2 AEC资质证明 请注意AEC- Q100...
1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。然后将允许供应商进行声明,例如,“AEC-Q100符合ESD分类2的要求”。 1.3.2 AEC资质证明 请注意AEC- Q100资质...
表A1.3:钝化改变的失效模式/机制列表示例如上是AEC Q100附录1 定义产品认证家族的内容，由于篇幅较长，AEC Q100其余的附录部分内容将会单独翻译整理。此文档是继续前一篇AEC Q100正文翻译和解读继续的附录1部分内容，想了解AEC Q100文件正文内容的朋友，可以点击如下链接。AEC-Q100-REV-H中文版翻译及内容解读（正文部...
温度范围 关于温度范围这块儿,比起Q100针对芯片区分了4档温度范围、最高才150度,Q101标准简单粗暴,规定最低温度范围就是-40度～+125度,你可以高,但不能低。 AEC-Q200标准 Q200标准是用于被动器件的,标准全称:StressTestQualificationForPassiveComponents,被动器件应力测试认证,这个名字比Q100和101短多了。现在的RevD...
AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对A组的第6项HTSL - High Temperature Storage Life 高温存储寿命实验项目进行展开讨论。 AEC-Q100RevH 表2 A4-A6内容 High Temperature Storage Life - HTSL - 高温存储寿命实验
AEC-Q100最新的版本是Rev_H,发布于2014年,当前网上很难找到公开的中文翻译版文档。此篇翻译和解读,就是基于官方公开的英文版本为基础。 AEC Q100 REV-H封面 文件的内容 包含AEC-Q100文件正文内容 正文后有7个附录 Appendix 1: Definition of a Qualification Family - 附录1: 产品认证家族的定义 ...
AEC_Q100-006_rev_D AEC - Q100-006 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 6 AEC - Q100-006 REV-D ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE TEST (GL)
AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个器件进行严格的质量与可靠性确认,特别对产品功能与性能进行标准化测试。目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。 AEC-Q100区别于其他检测认证就是可以使用可接受的通用数据来简化认证流程,同时考核认证所使用的...
AEC-Q100最新的版本是Rev_H，发布于2014年，当前网上很难找到公开的中文翻译版文档。此篇翻译和解读，就是基于官方公开的英文版本为基础。此文档是接续AEC Q100正文翻译和解读的附录部分内容，本文进行附录3和附录4的介绍：Appendix 3: Plastic Package Opening for Wire Bond Testing 附录3: 用于邦线粘结测试的塑料...
AEC-Q100最新的版本是Rev_H,发布于2014年,当前网上很难找到公开的中文翻译版文档。此篇翻译和解读,就是基于官方公开的英文版本为基础。 此文档是接续前面AEC Q100正文及附录翻译和解读内容的内容:附录2 Appendix 2: Q100 Certification of Design, Construction and Qualification ...