AEC - Q005 Rev - A - Pb-Free Test Requirements无铅测试要求.pdf,AEC - Q005 - REV-A June 1, 2010 Automotive Electronics Council Component Technical Committee AEC – Q005 - REV- PB-FREE TEST REQUIREMENTS AEC - Q005 - REV-A June 1, 2010 Automotive Electronic
AEC-Q100标准解读之AEC Q005 Lead (Pb) Free (LF)Lead (Pb) Free (LF) 参考标准: AEC Q005; 目的:验证器件引脚电镀完整性(锡须生长、可焊性、耐焊接性); 失效机制:材料或工艺的缺陷; 试验通过判断依据:>95% lead coverage ; 实验室能力范围:能满足芯片的LF验证需求;...
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AEC - Q005 - REV-A June 1, 2010 Automotive Electronics Council Component Technical Committee AEC – Q005 - REVPB-FREE TEST REQUIREMENTS AEC - Q005 - REV-A June 1, 2010 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a complex technology brings ...
包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q103(传感器)、AEC-Q104(多芯片组件)、AEC-Q200(被动组件)。进入汽车领域,则必须取得汽车电子协会的AECQ可靠度标准,以及零失效(Zero Defect)的供应链质量管理标准IATF16949规范。
AEC-Q005 无铅测试要求 AEC-Q100 基于集成电路应力测试认证的失效机理 规范了零件供货商所必须达成的产品质量与可靠度,试验条件多仍以JEDEC或MIL-STD为主,外加上其它独立建置的测试手法。 AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成...
(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h,每一 cycle 共 24h,step7a&7b 不通電 AEC-Q200 專有名詞整理: 簡稱 8D AEC 中文 解決問題方法 汽車電子設備協會 英文 Automotive Electronic Council AEC-Q001 AEC-Q002 AEC-Q003 AEC-Q005 AEC-Q100 零件平均測試指導 原則 統計式良品率分析 的指導...
罗工13632219627 AEC Q 100 AEC Q 101 AEC Q 102 AEC Q 200專有名詞整理:簡稱 中文 英文 說明 AEC 美國汽車電子協會 Automotive Electronic Council 由車廠[克萊斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽車(GM)]發起並創立於1994年,目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子與半導體廠商。 AEC-Q001 零件平均測試指導...
*注:无铅端子的可焊性要求参见AEC-Q005无铅产品验证要求。 表3 工艺变更对应的可选认证内容指导 其中: A超声波显微镜 B如果不是激光刻蚀 C仅针对引线框架电镀变更 D仅针对引脚加工变更 E如果适用 F有限元分析 G玻璃化温度 H仅针对密封器件 I早期失效率 J变化为铜线 L仅针对无铅器件 M仅针对功率MOS/IGBT器件 ...