2025年3月4日,全球汽车高速连接技术领导者Valens Semiconductor(以下简称“Valens”)(纽交所代码:VLN)宣布,已与七家MIPIA-PHY芯片提供商成功完成了互操作性测试。这七家企业分别是:Analogix、奕斯伟科技、裕太微电子、豪威科技、矽力杰、芯炽科技和首传微电子。此次测试是推动A-PHY标准在中国大规模落地的关
本发明公开了一种针对PHY高速接口电路的BIST自动测试电路及测试方法.该测试电路包括:具有控制信号和数据自动生成功能和结果比较功能的BIST控制电路,模拟电路参数控制扫描链,两个选择器,测试结果输出电路.该测试方法步骤包括:(1)进入ATPG扫描模式;(2)通过扫描链配置PHY高速接口电路的参数及PLL电路的参数;(3)进入PHYBIST...
Built-in pattern generators and verifiers Multiple diagnostic loopbacks IEEE 1149.1 port with memory BIST, scan, and JTAG boundary scan 10 GbE WAN and LAN PHY functionality Complete PCS-R and PCS-W functionality including: 64b/66b encoding and decoding + 1 scrambling and descrambling 66:16 ge...
IEEE 1149.1端口存储器BIST ,扫描和 JTAG边界扫描 一般特定网络阳离子 万兆以太网WAN和LAN PHY功能 完整的PCS -R和PCS -W功能 其中包括: 部分64b / 66b的编码和解码 X 58 + X 39 + 1个加扰和解扰 66:16 gearboxing 块同步 速率匹配 Block_lock检测 ...
BIST注册。 。。。 的CardBus插槽寄存器/ EXCA基址寄存器。 。。。 能力指针寄存器。 。。。 二次状态寄存器。 。。。 PCI总线号注册。 。。。 的CardBus总线号注册。 。。。 下级总线号注册。 。。。
本发明公开了一种DDR2/3 PHY BIST数据通道测试向量生成方法,包括如下步骤:(1)选择LFSR结构,利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数;(2)交织选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据;(3)对测试数据进行组合,构造出最终测试向量.本发明结构简单易实现,在满足测试需求的条件下减小了BIST运行频率,降低功耗.马杰...
The controller mainly contains protocol transmission, forward error correction and user layer build-in self-test(BIST). The physical coding sub-layer(PCS) provides the functions of 64/66 encoder/decoder, PHY BIST, and polarity control. In the physical medium attachment(PMA), both transmitter(TX)...